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有時(shí)甚至在EMI敏感設(shè)備放置一段時(shí)間后會(huì)突然發(fā)生電磁干擾問(wèn)題，頻譜分析儀則是標(biāo)出問(wèn)題緣由的重要診斷工具。天線用于決定發(fā)射源的方向并標(biāo)出很大干擾的區(qū)域。RF電流探頭探測(cè)UPS電源產(chǎn)生的干擾，通過(guò)頻譜分析儀與寬帶天線追隨追查某寬帶電磁干擾到一間裝有UPS電源的房間，用RF電流探頭探出干擾源是蓄電池線纜。注意用天線和電流探頭兩者接收的發(fā)射特性相似。EMI勘測(cè)也可用于城市條例或國(guó)家法規(guī)中，例如有些城市都有要求對(duì)可移動(dòng)天線之類的廣播天線進(jìn)行年檢的條例；有時(shí)候，這些測(cè)試必須在偏遠(yuǎn)地區(qū)或山頂進(jìn)行。OSHA職業(yè)安全與健康標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)可能產(chǎn)生高射頻能量的儀器進(jìn)行安檢的條例。頻譜分析儀可測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)，并將其轉(zhuǎn)換為指定的...

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。廣州消費(fèi)電子EMI診斷儀器當(dāng)...

電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐...

理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相...

有時(shí)甚至在EMI敏感設(shè)備放置一段時(shí)間后會(huì)突然發(fā)生電磁干擾問(wèn)題，頻譜分析儀則是標(biāo)出問(wèn)題緣由的重要診斷工具。天線用于決定發(fā)射源的方向并標(biāo)出很大干擾的區(qū)域。RF電流探頭探測(cè)UPS電源產(chǎn)生的干擾，通過(guò)頻譜分析儀與寬帶天線追隨追查某寬帶電磁干擾到一間裝有UPS電源的房間，用RF電流探頭探出干擾源是蓄電池線纜。注意用天線和電流探頭兩者接收的發(fā)射特性相似。EMI勘測(cè)也可用于城市條例或國(guó)家法規(guī)中，例如有些城市都有要求對(duì)可移動(dòng)天線之類的廣播天線進(jìn)行年檢的條例；有時(shí)候，這些測(cè)試必須在偏遠(yuǎn)地區(qū)或山頂進(jìn)行。OSHA職業(yè)安全與健康標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)可能產(chǎn)生高射頻能量的儀器進(jìn)行安檢的條例。頻譜分析儀可測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)，并將其轉(zhuǎn)換為指定的...

噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會(huì)耦合至天線而輻射出來(lái)。在實(shí)際測(cè)試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問(wèn)題。機(jī)器內(nèi)部的引線﹐連接線成為輻射天線，由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對(duì)此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來(lái)判斷噪聲是否減低...

通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn)，會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問(wèn)題。當(dāng)然，大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。好消息是，無(wú)需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解決EMI問(wèn)題是完全可行的。本文討論的一些技術(shù)可以幫助你減少一個(gè)產(chǎn)品在測(cè)試室進(jìn)行終完整的EMC一致性評(píng)估時(shí)失敗的風(fēng)險(xiǎn)。本文還舉了一個(gè)確定信號(hào)特征和一致性以便找出EMI發(fā)射源的例子。近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。廣東汽車電子EMI診斷器件選型噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜...

電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間，就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω，以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意，在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中，濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入，這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω。近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。鄭州EMI診斷頻率對(duì)于一個(gè)電磁...

EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來(lái)完成。按照FCC和VDE發(fā)射說(shuō)明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來(lái)測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過(guò)橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試，測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開(kāi)口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的...

混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。如圖5所示的這種儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生，從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過(guò)程?；旌嫌蚴静ㄆ鳎∕DO）將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺(tái)儀表內(nèi)，可以從全部三臺(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。MDO將混合信號(hào)示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合，你能夠自動(dòng)顯示模擬信號(hào)特征、數(shù)字時(shí)序、總線事務(wù)以及射頻并在這些信息基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡，包括射頻幅度對(duì)時(shí)間、射頻相位對(duì)時(shí)間以及射頻頻率對(duì)時(shí)間的關(guān)系曲線。全世界幾乎所有有...

電源濾波器的衰減特性也可由頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器來(lái)完成。追隨信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一已知電平的掃描頻率信號(hào)而通過(guò)頻譜分析儀來(lái)追隨觀察。將濾波器放在發(fā)生器輸出和頻譜分析儀輸入之間，就可以得到其衰減特性。發(fā)生器輸出電平與頻譜分析儀接收到的電平之差等于該濾波器所提供的衰減。濾波器測(cè)試裝置的源和負(fù)載阻抗一般為50Ω，以便與濾波器生產(chǎn)廠家提供的典型衰減曲線相比較。應(yīng)當(dāng)注意，在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中，濾波器的衰減值可能與提供的典型曲線有很大出入，這是因?yàn)閷?shí)際與濾波器相連的網(wǎng)絡(luò)阻抗并不總是50Ω?；旌嫌蚴静ㄆ骺梢詮娜咳_(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。重慶 常用EMI診斷頻譜儀由于EMI測(cè)試上﹐EUT必須...

雖然EMI測(cè)量接收機(jī)也可用于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，但在故障的診斷和檢修階段頻譜分析儀則顯得更優(yōu)越。根據(jù)OItek經(jīng)驗(yàn)，大多數(shù)情況下被測(cè)設(shè)備在一次測(cè)試時(shí)都不能滿足人們的期望值，因此診斷電磁干擾源并指出輻射發(fā)射區(qū)域就顯得很迫切。在EMI輻射發(fā)射測(cè)試的故障檢修方面，有時(shí)可能想要設(shè)置足夠?qū)挼念l率范圍，以使得輻射發(fā)射需要的頻譜范圍以外的頻譜也包含在內(nèi)。用頻譜分析儀，電磁兼容工程師就可以觀察到比用一臺(tái)典型的EMI測(cè)試接收機(jī)可觀察到更寬的頻譜范圍。近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。鄭州EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰...

EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來(lái)完成。按照FCC和VDE發(fā)射說(shuō)明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來(lái)測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過(guò)橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試，測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開(kāi)口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的...

機(jī)器外部連接之電纜成為輻射天線：由于機(jī)器本身外部所連接的電纜成為天線效應(yīng)﹐將噪聲輻射到空間﹐此時(shí)噪聲的大小和電纜的長(zhǎng)度有關(guān)﹐因電纜的天線效應(yīng)相對(duì)于噪聲半波長(zhǎng)時(shí)共振情形會(huì)很大﹐也往往是造成EMI無(wú)法通過(guò)測(cè)試。在解決這個(gè)問(wèn)題前必須要做一些判斷﹐否則很容易疏忽而浪費(fèi)時(shí)間。噪聲是由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地所產(chǎn)生，此情形為將電纜取下﹐或加一Core則噪聲減低或消失。此時(shí)必須做的一個(gè)步驟是將線靠近機(jī)器（不須直接連接）看噪聲是否會(huì)存在﹐若噪聲并沒(méi)有升高﹐則可確實(shí)判定由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生﹐若將電纜靠近而干擾噪聲馬上升高。沒(méi)有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。上海電氣電力EMI診斷儀器EMI定義：電磁...

EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件，根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng)，它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠，是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比，則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此，EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過(guò)程中不可缺少的輔助手段，它能及時(shí)向設(shè)計(jì)師反饋EMC設(shè)計(jì)是否合理，采取的電磁干擾壓制措施是否奏效。產(chǎn)品設(shè)計(jì)師能夠根據(jù)EMI診斷結(jié)果找到壓制干擾的途徑。干擾的來(lái)源可能是多方面的，同一臺(tái)設(shè)備可能即是干擾源，又是敏感設(shè)備，干擾的傳播一般會(huì)有多種渠道。聯(lián)機(jī)過(guò)程中也需要借助儀器設(shè)備幫助進(jìn)行各種診斷。EMI診斷能夠滿足設(shè)計(jì)師的上述需求。理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下...

設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要經(jīng)過(guò)多次修改才能達(dá)到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅，EMI診斷也不是他們?nèi)粘Ｘ?zé)任的一部分。通常，只當(dāng)設(shè)計(jì)的電路板幾乎完工時(shí)才遞交給EMC部門或外部實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步測(cè)試。然而，相比早期設(shè)計(jì)階段（這時(shí)某些設(shè)計(jì)考慮或許能夠妥善處理）修改，在這個(gè)階段做出改動(dòng)極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)果在設(shè)計(jì)上是可控的，能夠做出規(guī)劃，同時(shí)也是設(shè)計(jì)師的責(zé)任。解決EMI并非使用什么巫術(shù)，也無(wú)需時(shí)域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器，您能夠更好地理解EMI問(wèn)題，以及了解所用解決方案的效果。雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。家電燈具EMI診...

混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。如圖5所示的這種儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生，從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過(guò)程?；旌嫌蚴静ㄆ鳎∕DO）將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺(tái)儀表內(nèi)，可以從全部三臺(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。MDO將混合信號(hào)示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合，你能夠自動(dòng)顯示模擬信號(hào)特征、數(shù)字時(shí)序、總線事務(wù)以及射頻并在這些信息基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡，包括射頻幅度對(duì)時(shí)間、射頻相位對(duì)時(shí)間以及射頻頻率對(duì)時(shí)間的關(guān)系曲線。儀器能夠相當(dāng)容易...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號(hào)通過(guò)空間“輻射”出來(lái)。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來(lái)?？刂菩盘?hào)回路的阻抗，主要的辦法是縮短信號(hào)的長(zhǎng)度，減少回路的面積，其次是採(cǎi)取合理的端接，控制回路的反射。其實(shí)控制信號(hào)回路的一個(gè)簡(jiǎn)單的辦法就是對(duì)重點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆，和...

故在EMI的問(wèn)題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。準(zhǔn)峰值與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的...

電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在半電波暗室或者EMC開(kāi)闊場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)量，測(cè)量天線與被測(cè)物的距離一般為3米或3米以上，給出的結(jié)果是一張頻譜圖，即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應(yīng)分別測(cè)試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測(cè)試EUT運(yùn)行過(guò)程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測(cè)設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過(guò)了標(biāo)準(zhǔn)的限值，被測(cè)設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪...

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。江蘇G...

種診斷輻射EMI機(jī)理的實(shí)驗(yàn)臺(tái)及簡(jiǎn)易診斷方法,實(shí)驗(yàn)臺(tái)由工作臺(tái),電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組,頻譜分析儀和計(jì)算機(jī)構(gòu)成;電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組可以在工作臺(tái)上方三維移動(dòng);電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組交替連接頻譜分析儀輸入端,頻譜分析儀的輸出端接計(jì)算機(jī).診斷步驟:將被測(cè)電路平面區(qū)域劃分為若干輻射干擾單元;確定輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段.輻射干擾單元輻射干擾精測(cè),根據(jù)輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段調(diào)整頻譜分析儀的掃描頻段,分別用電/磁場(chǎng)探頭依次測(cè)量各輻射干擾單元的電平值,計(jì)算各輻射干擾單元的輻射電/磁場(chǎng)強(qiáng)度.本發(fā)明實(shí)驗(yàn)臺(tái)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低.本發(fā)明方法能快速簡(jiǎn)便地檢測(cè)出電子系統(tǒng)的輻射EMI噪聲種類,為輻射EMI噪聲壓制方案提供理論依據(jù)。混合域...

以往我們?？吹秸凟MI對(duì)策離不開(kāi)屏蔽（Shielding），濾波（Filter），接地（Grounding）﹐對(duì)于接地往往一塊電路板多已固定﹐而無(wú)法再做處理﹐因?yàn)檫@一部份在電路板布線（Layout）時(shí)就須仔細(xì)考慮﹐若板子已完成則此時(shí)可變動(dòng)的空間就非常小﹐一般方式只能找出噪聲小的接地處用較粗的地線連接﹐減低共模（Commonmode）噪聲。屏蔽所牽涉的材質(zhì)與花費(fèi)亦甚高﹐濾波的方式則是?？梢?jiàn)Bead電感等﹐往往用了一大堆亦不甚見(jiàn)效﹐何以如此﹐許多時(shí)候是我們沒(méi)有解決其輻射的天線效應(yīng)。一般而言﹐噪聲的能量并不會(huì)因加一些對(duì)策組件便消失﹐也就是能量不減﹐我們所要做的工作是如何避免噪聲輻射到空間（輻射測(cè)試）...

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開(kāi)展問(wèn)題的排查工作。在同一臺(tái)儀器上問(wèn)時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)...

EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件，根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng)，它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠，是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比，則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此，EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過(guò)程中不可缺少的輔助手段，它能及時(shí)向設(shè)計(jì)師反饋EMC設(shè)計(jì)是否合理，采取的電磁干擾壓制措施是否奏效。產(chǎn)品設(shè)計(jì)師能夠根據(jù)EMI診斷結(jié)果找到壓制干擾的途徑。干擾的來(lái)源可能是多方面的，同一臺(tái)設(shè)備可能即是干擾源，又是敏感設(shè)備，干擾的傳播一般會(huì)有多種渠道。聯(lián)機(jī)過(guò)程中也需要借助儀器設(shè)備幫助進(jìn)行各種診斷。EMI診斷能夠滿足設(shè)計(jì)師的上述需求。使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)...

檢查電纜接頭端的接地螺絲是否旋緊及外端接地是否良好。依在前項(xiàng)方式大略找了一下問(wèn)題后﹐我們必須再做一些檢查﹐因?yàn)橥高^(guò)這些檢查﹐也許不須做任何修改﹐便可通過(guò)EMI測(cè)試。例如檢查電纜端的螺絲是否鎖緊﹐有時(shí)將松掉的螺絲上緊﹐可加強(qiáng)電纜線的屏蔽效果。另外可檢查看看機(jī)器外接的Connector的接地是否良好﹐若外殼為金屬而有噴漆﹐則可考慮將Connector處的噴漆刮掉﹐使其接地效果較佳。另外若使用Shielded的電纜線﹐必須檢查接頭端處外覆的金屬綱是否和其鐵蓋密合﹐許多不佳的屏蔽線（RS232）多因線接頭的外覆屏蔽金屬綱未冊(cè)和連接端的地密合﹐以致無(wú)法充份達(dá)到屏蔽的效果。電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，...

噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測(cè)試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會(huì)耦合至天線而輻射出來(lái)。在實(shí)際測(cè)試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問(wèn)題。機(jī)器內(nèi)部的引線﹐連接線成為輻射天線，由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對(duì)此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來(lái)判斷噪聲是否減低...

為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問(wèn)題中心的天線，你需要檢查被觀察信號(hào)的周期。信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。你還需要查看巧合性。待測(cè)設(shè)備（DUT）上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見(jiàn)的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。檢查EMI問(wèn)題與電氣事件的巧合性無(wú)疑是EMI排查中耗時(shí)間的工作。過(guò)去，將來(lái)自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。示波器互補(bǔ)的方法為EMI排查診斷打開(kāi)了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。江蘇多媒體EMI診斷測(cè)試設(shè)備EMI定義：電磁兼容(EMC)包括電磁干擾...

接下來(lái)做什么？電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。我們不久將討論這一方面的內(nèi)容。排查EMI是否一致的四種基本方法：全世界幾乎所有有關(guān)部門都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。為了向用戶提供一定的保護(hù)和安全等級(jí)，有關(guān)部門都會(huì)制訂涉及電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的非常特殊的一些規(guī)則和規(guī)定。當(dāng)然這是好事。但這也意味著為了盡量減少他們的EMI特征并通過(guò)官方的EMI認(rèn)證測(cè)試，許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。壞消息是，即使采用了好的設(shè)計(jì)原理、選擇了高質(zhì)量的元件并且仔細(xì)地表征了產(chǎn)品，當(dāng)進(jìn)行一致性測(cè)試時(shí)，如果測(cè)試并不是所有階段都進(jìn)展順利，...

視頻濾波法：視頻濾波有助于觀察寬帶噪聲中是否有窄帶信號(hào)。濾波使得寬帶減弱，而窄帶幅值電平保持不變。變換掃描時(shí)間法：這種方法可用于在頻譜分析儀顯示屏上觀測(cè)一組脈沖。頻譜分析儀每格間隔的寬度應(yīng)設(shè)置得使譜線間的間距可以被觀察到。通過(guò)改變頻譜分析儀的掃描時(shí)間，譜線的間隔可能變也可能不變。如果屏蔽上間隔寬度保持不變，則信號(hào)是窄帶；如果間隔寬度改變了，則信號(hào)被認(rèn)為是寬帶。調(diào)諧測(cè)試法：在使用適當(dāng)?shù)姆直鎺挼那闆r下，窄帶信號(hào)實(shí)際上是相對(duì)于頻譜儀而言是窄的。因此，當(dāng)改變或調(diào)諧頻率峰值標(biāo)記時(shí)窄帶信號(hào)的幅值將或左或右地明顯偏離窄帶信號(hào)的峰值。當(dāng)很大峰值的變化大于3dB／兩個(gè)脈沖帶寬頻變時(shí)，則信號(hào)被認(rèn)為是窄帶信號(hào)，否...