機(jī)器外部連接之電纜成為輻射天線：由于機(jī)器本身外部所連接的電纜成為天線效應(yīng)﹐將噪聲輻射到空間﹐此時噪聲的大小和電纜的長度有關(guān)﹐因電纜的天線效應(yīng)相對于噪聲半波長時共振情形會很大﹐也往往是造成EMI無法通過測試。在解決這個問題前必須要做一些判斷﹐否則很容易疏忽而浪費(fèi)時間。噪聲是由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地所產(chǎn)生，此情形為將電纜取下﹐或加一Core則噪聲減低或消失。此時必須做的一個步驟是將線靠近機(jī)器（不須直接連接）看噪聲是否會存在﹐若噪聲并沒有升高﹐則可確實判定由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生﹐若將電纜靠近而干擾噪聲馬上升高。沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時。上海電氣電力EMI診斷儀器

EMI定義：電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡而言之，EMI是電子設(shè)備對外部電磁環(huán)境的干擾，EMS是電子設(shè)備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無論是EMI還是EMS，都包括輻射和傳導(dǎo)兩部分。EMC認(rèn)證是任何電子設(shè)備必須遵從的，EMI是EMC中的重要部分。EMI測試包括：1.EMC認(rèn)證機(jī)構(gòu)在EMC實驗室進(jìn)行認(rèn)證測試；2.企業(yè)質(zhì)檢部門利用EMI接收機(jī)或高指標(biāo)頻譜儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測試；3.產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測部門利用頻譜儀進(jìn)行EMI診斷；4.產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測部門利用示波器測試電源紋波、時鐘抖動等特性，因為它們是產(chǎn)生EMI的因素之一。上海電氣電力EMI診斷儀器一般來說，近場探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。

各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動﹐看噪聲是否會減小或消失﹐若會減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實測上很容易被疏忽﹐而會誤判機(jī)器的EMI為何每次測時好時壞﹐或花許多時間在其它的對策上面。

起初接觸產(chǎn)品EMI對策修改時﹐會聽到很好EMI工程師說把所有EMI對策拿掉﹐就可以通過測試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗。本文中將舉出實際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對策觀念。一般提到如何解決EMI問題﹐大多說是casebycase，當(dāng)然從對策上而言﹐每一個產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無法用幾套方法而解決所有EMI的問題﹐但是長久以來﹐我們一直想要把處理EMI問題并做適當(dāng)?shù)膶Σ擤o另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對策的一些心得經(jīng)驗整理﹐希望能對讀者有些幫助。根據(jù)經(jīng)驗需要記住，如果你能觀察遠(yuǎn)場中的信號，那么應(yīng)該能看到近場中的相同信號。

改變帶寬法：通過改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個真正的窄帶或連續(xù)波信號的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時間為零、幅值無限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過程中，實際上允許與理想情況存在偏差。測試人員在使用這種方法時不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時基本保持不變，而寬帶信號在用平均值檢波時幅值將變小。EMI報告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來很簡單。上海EMI診斷輻射發(fā)射測試

信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。上海電氣電力EMI診斷儀器

EMI測試場的衰減測試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來完成。按照FCC和VDE發(fā)射說明進(jìn)行測試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場地衰減要求。頻譜分析儀能用來測試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號發(fā)生器測試，測試裝置與濾波器衰減測試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測試材料的方法是將材料樣本蒙在測試盒的開口上。此時追隨信號發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測試盒的內(nèi)部。接收天線放在測試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的測量值之差就是屏蔽效能值。上海電氣電力EMI診斷儀器

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