在實際使用中，感興趣的是輻射遠場區(qū)。通常的應用中，我們應該避免收、發(fā)天線處在近場區(qū)范圍，因為此時不但天線的方向圖沒有形成，而且在近場范圍內(nèi)的任何導電體甚至介質(zhì)物體都被看成是天線電磁邊界條件的一部分，它影響了原來的天線，和原來的天線一起共同修正和改變了遠場的方向圖輻射特性，從而影響了實際使用效果。某些特殊應用場合，天線和其它物體靠得很近，從而使天線的輻射特性變得極其復雜，比如手機天線置于人體附近的情況，這需要專門予以討論。電場與磁場的運行方向互相垂直，并都垂直于電磁波的傳播方向。安徽儀器儀表近場輻射抑制方式

近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。在認證機構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的EMI標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB，LAN之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場，電場和磁場共同存在，其強度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場為主還是磁場為主，主要是由發(fā)射源的類型決定的。簡而言之，在高電壓，低電流的區(qū)域，電場大于磁場。高電流，低電壓的區(qū)域，磁場大于電場。同時在主要的EMI測試頻段，磁場隨著距離的變化要快于電場。浙江手機近場輻射分析儀價格超出天線以外后，電磁場就會自動脫離為能量包單獨傳播出去。

輻射近場測量的研究與誤差分析的探討是同時進行的，研究結(jié)果表明：輻射近場測量的主要誤差源為18項，大致分為4個方面，即探頭誤差、機械掃描定位誤差、測量系統(tǒng)誤差以及測量環(huán)境誤差。對于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，計算機模擬及各項誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。對于平面輻射近場測量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場點偏離天線口面法線方向的方向角）時，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場測量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，式中L為掃描面的尺寸；X為天線口徑面的尺寸；d為掃描面到天線口徑面的距離。

平面散射近場測量的基本理論已由文獻［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對一個由N個輻射單元組成的線陣同時進行激勵，每個輻射單元產(chǎn)生一個準球面波e（θ，φ），選擇一個與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對每個e（θ，φ）進行加權(quán)并求和（線性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對被測目標的照射。這一過程實現(xiàn)了對平面波的綜合（這與綜合口徑雷達SAR的概念極為相似），并很容易在計算機上完成。天線元件的電流產(chǎn)生磁場，方向每半個周期變換一次。

輻射近場測量是用一個已知探頭天線（口徑幾何尺寸遠小于1λ）在離開輻射體（通常是天線）3λ～5λ的距離上掃描測量（按照取樣定理進行抽樣）一個平面或曲面上電磁場的幅度和相位數(shù)據(jù)，再經(jīng)過嚴格的數(shù)學變換計算出天線遠區(qū)場的電特性。當取樣掃描面為平面時，則稱為平面近場測量；若取樣掃描面為柱面，則稱為柱面近場測量；如果取樣掃描面為球面，則稱為球面近場測量。其主要研究方法為模式展開法，該方法的基本思想為：空間任意一個時諧電磁波可以分解為沿各個方向傳播的平面波或柱面波或球面波之和。遠場分量的強度距離衰減二次組件。安徽儀器儀表近場輻射抑制方式

反應區(qū)里，電場和磁場是很強的，并且可以單獨測量。安徽儀器儀表近場輻射抑制方式

輻射近場測量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響，時域測量是一個良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場掃頻測量的研究：就一般情況而言，天線都在一個頻帶內(nèi)工作，因此，各項電指標都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個頻率點的電指標，就需要進行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度：近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進一步研究。安徽儀器儀表近場輻射抑制方式