MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn)，其測(cè)試目的類(lèi)似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測(cè)試，只不過(guò)它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測(cè)試要求通常會(huì)用到磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備；被測(cè)的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz；可能會(huì)要求屏蔽效能值大于100dB。近場(chǎng)探頭和天線與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域，就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測(cè)試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會(huì)碰到許多同樣的問(wèn)題，通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e(cuò)誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。重慶 汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試儀

當(dāng)設(shè)備完全符合有關(guān)的規(guī)定后,如果為了降低產(chǎn)品成本,減少不必要的器件或設(shè)計(jì),可以將先前診斷過(guò)程中所采取的措施逐個(gè)去掉。首先應(yīng)該考慮去掉的是成本較高的器件或材料,以及在正式產(chǎn)品上難以實(shí)現(xiàn)的措施。如果去掉后,產(chǎn)品的輻射發(fā)射并沒(méi)有超標(biāo),那么就可以去掉這個(gè)措施。然后通過(guò)測(cè)試,使產(chǎn)品成本降到低。EMI診斷是設(shè)計(jì)階段的主要測(cè)試手段產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段需要EMC測(cè)試。EMC試驗(yàn)可分為規(guī)范的EMC測(cè)試和EMI診斷。EMC測(cè)量必須根據(jù)設(shè)備類(lèi)型及使用范圍，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)量要求，在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室采取規(guī)范的測(cè)量方法完成數(shù)據(jù)采集。重慶 汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試儀示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問(wèn)題。

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開(kāi)展問(wèn)題的排查工作。

起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類(lèi)似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問(wèn)題﹐大多說(shuō)是casebycase，當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無(wú)法用幾套方法而解決所有EMI的問(wèn)題﹐但是長(zhǎng)久以來(lái)﹐我們一直想要把處理EMI問(wèn)題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專(zhuān)業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。不需要達(dá)到與EMI部門(mén)或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。

為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問(wèn)題中心的天線，你需要檢查被觀察信號(hào)的周期。信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。你還需要查看巧合性。待測(cè)設(shè)備（DUT）上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見(jiàn)的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。檢查EMI問(wèn)題與電氣事件的巧合性無(wú)疑是EMI排查中耗時(shí)間的工作。過(guò)去，將來(lái)自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問(wèn)題。天津電磁EMI診斷方法

待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以 便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。重慶 汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試儀

您可能會(huì)問(wèn)：那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值（QP）檢波器？這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類(lèi)分辨率帶寬（RBW）濾波器是窄帶的，其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn)，而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率進(jìn)行檢測(cè)加權(quán)從得出峰值的。使用不正確的濾波器和檢波器會(huì)影響設(shè)備返回的幅度值和頻率值。在一致性測(cè)試中，這兩個(gè)是強(qiáng)制遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而，對(duì)于EMI診斷它們不是決定性的，因?yàn)橹饕康氖菑奈锢砩虾碗姎馍献R(shí)別出輻射源。如果沒(méi)有實(shí)際的一致性精度要求，您獲得接近的估值已足夠用了。重慶 汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試儀