AOI 的節(jié)能設計符合綠色制造趨勢，愛為視 SM510 在非工作狀態(tài)下自動進入低功耗模式，功耗從峰值 560W 降至不足 100W，同時 LED 光源采用智能調(diào)光技術(shù)，在圖像采集時以功率工作，其余時間自動降低亮度。對于 24 小時運行的產(chǎn)線，該設計可每年節(jié)省數(shù)千度電能，降低企業(yè)碳排放與用電成本。此外，設備采用無風扇散熱設計，減少機械部件磨損的同時降低噪音污染，營造更友好的車間環(huán)境。AOI 硬件軟件協(xié)同優(yōu)化，平衡速度與精度，滿足高產(chǎn)能與高質(zhì)量的雙重生產(chǎn)目標。AOI系統(tǒng)提供直觀的缺陷圖像與統(tǒng)計報表，便于工藝人員快速定位問題根源。福建爐前AOI光源

AOI 的多設備協(xié)同檢測方案滿足復雜板卡全流程管控需求，愛為視 SM510 支持與 SPI（焊膏檢測）、AXI（X 光檢測）設備組成立體檢測網(wǎng)絡。例如，在檢測多層 PCB 時，SPI 先驗證焊膏印刷質(zhì)量，AOI 負責表面元件貼裝與焊錫外觀檢測，AXI 則穿透檢測內(nèi)層焊點，三者數(shù)據(jù)互通形成完整的質(zhì)量檔案。某工業(yè)控制板生產(chǎn)線上，通過三機種協(xié)同檢測，將整體不良率從 1.8% 降至 0.3%，同時實現(xiàn)了從焊膏印刷到回流焊的全工藝鏈追溯，為復雜板卡的高可靠性生產(chǎn)提供了保障。上海新一代AOI光學檢測儀AOI可測PCBA尺寸50mm50mm至510mm460mm，厚度0.5-6mm，元件高頂面35mm、底面80mm。

AOI 的低誤判率特性降低人工復判成本，愛為視 SM510 通過 “多級驗證算法” 減少誤報，即對疑似缺陷先由卷積神經(jīng)網(wǎng)絡初篩，再通過支持向量機（SVM）進行特征二次校驗，結(jié)合元件工藝規(guī)則（如焊盤尺寸、引腳間距）進行邏輯判斷。以 “錫珠” 檢測為例，傳統(tǒng) AOI 可能將焊盤周圍的反光點誤判為缺陷，而該設備通過多算法融合，可根據(jù)錫珠的形狀、灰度值及與焊盤的距離等多維特征識別，誤判率低于 0.5%，使人工復判工作量減少 80% 以上，尤其適合對檢測精度要求極高的醫(yī)療設備 PCBA 生產(chǎn)。

AOI 的字符識別功能在追溯與品質(zhì)管理中發(fā)揮重要作用，愛為視 SM510 集成先進的 OCR（光學字符識別）算法，可識別 PCBA 上的元件絲印、批次號、生產(chǎn)日期等字符信息。通過對比預設的標準字符庫，系統(tǒng)能快速檢測字符模糊、缺失、錯誤等問題，例如識別電阻上的阻值標識是否與設計文件一致，或電容上的極性標記是否正確。這些信息不用于缺陷判定，還可與 SPC 系統(tǒng)結(jié)合，分析字符印刷工藝的穩(wěn)定性，為上游供應商管理提供數(shù)據(jù)依據(jù)。AOI 智能判定通過深度神經(jīng)網(wǎng)絡分析圖像，減少人工干預，提升檢測一致性與客觀性。AOI的AI輔助編程簡化操作，無需復雜參數(shù)，新手可快速上手，降低人工編程難度。

半導體制造是一個極其精密的過程，對產(chǎn)品質(zhì)量的要求近乎苛刻，AOI在其中起著關(guān)鍵的質(zhì)量把控作用。在芯片制造的光刻、蝕刻、封裝等多個環(huán)節(jié)，都離不開AOI的檢測。在光刻環(huán)節(jié)，AOI可以檢測光刻圖案的精度，確保芯片上的電路布局符合設計要求。蝕刻后，AOI能夠檢測芯片表面的蝕刻質(zhì)量，發(fā)現(xiàn)是否存在殘留的光刻膠或蝕刻過度、不足等問題。在封裝階段，AOI則用于檢測芯片引腳的焊接質(zhì)量、封裝體是否存在裂縫等。由于半導體芯片的尺寸越來越小，集成度越來越高，哪怕是微小的缺陷都可能導致芯片失效，因此AOI的高精度檢測能力對于半導體行業(yè)的發(fā)展至關(guān)重要。AOI多維度報表為管理提供數(shù)據(jù)支撐，助力科學決策，優(yōu)化生產(chǎn)流程與資源配置。上海專業(yè)AOI

AOI光束引導指示不良位置，減少盲目排查，提高維修針對性與問題解決效率。福建爐前AOI光源

AOI 的元件高度兼容性使其可應對復雜堆疊結(jié)構(gòu)的 PCBA 檢測，愛為視 SM510 支持頂面元件高度達 35mm、底面達 80mm 的電路板檢測。這一特性尤其適用于汽車電子、通信設備等需要安裝散熱器、大型電容等 tall component 的場景。例如，在檢測新能源汽車電池管理系統(tǒng)（BMS）的 PCBA 時，設備可識別底面 80mm 高的電解電容焊接缺陷，如引腳虛焊或焊盤脫落，同時避免因元件高度差異導致的圖像聚焦偏差，確保多層堆疊結(jié)構(gòu)的檢測覆蓋。AOI 硬件軟件協(xié)同優(yōu)化，平衡速度與精度，滿足高產(chǎn)能與高質(zhì)量的雙重生產(chǎn)目標。福建爐前AOI光源