上海天梯檢測技術(shù)有限公司是從事工業(yè)與消費產(chǎn)品測試,檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗機構(gòu)。實驗室已取得中國合格評定國家認(rèn)可委員會實驗室認(rèn)可證書（CNAS ）實驗室依照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求》管理和運行,具備向社會出具公正性檢測報告的資格。 可靠性試驗，是指通過試驗測定和驗證產(chǎn)品的可靠性。為了測定、驗證或提高產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，它是產(chǎn)品可靠性工作的一個重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達到預(yù)定的可靠性指標(biāo)，在研制階段需要對樣品進行可靠性試驗，以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題，而加以改進，經(jīng)過反復(fù)試驗與改進，就能不斷地提高產(chǎn)品的各項可靠性指標(biāo)，達到預(yù)定的要求。企業(yè)在研發(fā)產(chǎn)品時進行可靠性環(huán)境的測試，能有效幫助企業(yè)節(jié)省生產(chǎn)成本。上海溫度可靠性測試公司

    MTBF驗證實驗：MTBF是當(dāng)前各行業(yè)產(chǎn)品的重要可靠性指標(biāo)，它標(biāo)識了產(chǎn)品的平均無故障工作時間。MTBF英文全稱是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一個產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標(biāo)。單位為“小時”。它反映了產(chǎn)品的時間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時間，也稱為平均故障間隔。概括地說，產(chǎn)品故障少的就是可靠性高，產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”（Failurerate）。根據(jù)MTBF能計算產(chǎn)品的失效率(Failurerate)故障率（Failurerate）:在單位時間內(nèi)（一般以年為單位），產(chǎn)品的故障總數(shù)與運行的產(chǎn)品總數(shù)之比叫做故障率，常用λ表示。例如，共有100臺設(shè)備運行，一年之內(nèi)出了2次故障，那么該設(shè)備的故障率為2/100=。當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布（見下圖）時，故障率的倒數(shù)就是MTBF，即平均故障間隔時間。例如某產(chǎn)品A的MTBF為22萬小時。22萬小時約為25年，并不是說A產(chǎn)品能工作25年不出故障。因為MTBF=1/λ,所以可以計算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A產(chǎn)品的平均年故障率為4%，一年內(nèi)。 老化試驗可靠性測試一般的可靠性測試項目包含哪些內(nèi)容?

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護等級（外殼防護試驗）： 外殼防護等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測試項目，上海天梯檢測技術(shù)有限公司為客戶提供以下可靠性測試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測試 恒溫恒濕測試 交變濕熱測試 低溫存儲測試 高溫存儲測試 高低溫沖擊測試 鹽霧測試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測試(Switch electrical test) 膠帶附著力測試(The tape adhesion test) 振動測試隨機/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測試(Drop test) 元器件推拉力測試(Push And Pull) 蒸氣老化測試(Steam Aging test) 元器件可焊性測試(Solderability test) IP等級防護測試 電源拉扭力測試 LED光衰壽命測試及認(rèn)證 回焊爐試驗 塑封芯片MSL等級測試可靠性環(huán)境的測試人員一定要嚴(yán)格按照操作規(guī)程進行測試。

測試可靠性的較簡單的一個方法是使用隨機輸入，這種類型的測試通過提供虛假的不合邏輯的輸入，努力使應(yīng)用程序發(fā)生故障或掛起。輸入可以是鍵盤或鼠標(biāo)事件、程序消息流、Web頁、數(shù)據(jù)緩存或任何其他可強制進入應(yīng)用程序的輸入情況。應(yīng)該使用隨機破壞測試測試重要的錯誤路徑，并公開軟件中的錯誤。這種測試通過強制失敗以便可以觀察返回的錯誤處理來改進代碼質(zhì)量。在隔離的受保護的測試環(huán)境中可靠的軟件，在真實環(huán)境的部署中可能并不可靠。雖然隔離測試在早期的可靠性測試進程中是有用的，但真實環(huán)境的測試環(huán)境才能確保并行應(yīng)用程序不會彼此干擾?？煽啃栽囼灥哪康囊约胺诸惗加心切?上?？煽啃詼y試上海天梯檢測技術(shù)有限公司

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如何保證設(shè)備在以年為單位的典型使用壽命內(nèi)可靠，而不會導(dǎo)致無法接受的生產(chǎn)延遲？為了解決這個問題，工程師們提出了可靠性測試的概念?？煽啃詼y試通過以更高的溫度、電壓和其他環(huán)境因素的形式向被測設(shè)備(DUT)施加更大的應(yīng)力，從而在功能上加速老化過程。在這個“降額”過程的不同階段對芯片運行的統(tǒng)計分析揭示了設(shè)計中的潛在弱點。通過在DUT進入批量生產(chǎn)之前進行各種可靠性測試，制造商可以降低風(fēng)險。它們降低了發(fā)布導(dǎo)致大量現(xiàn)場維修甚至召回的有缺陷產(chǎn)品的可能性。較終，可靠性測試增加了公司從新設(shè)計中獲利的機會，并有助于促進行業(yè)的更多創(chuàng)新。上海溫度可靠性測試公司

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