集成電路的輸出電流不是很大，一般為10mA左右，但是在一般的電子制作中，驅(qū)動(dòng)一個(gè)LED發(fā)光二極管還是沒有問題的。此外，集成電路的抗干擾能力也較強(qiáng)，即行話所說的噪聲容限較大，且電源電壓越高，抗干擾能力越強(qiáng)。電子制作中常用的數(shù)字集成電路有4001、4011、4013、4017、4040、4052、4060、4066等型號(hào)，建議多買些備用。市場(chǎng)上的數(shù)字集成電路進(jìn)口的較多，產(chǎn)品型號(hào)的前綴表示生產(chǎn)公司。一般來說，只要型號(hào)相同，不同公司的產(chǎn)品可以互換。需要注意的是，集成電路容易被靜電擊穿，因此需要妥善保存。模擬集成電路用來產(chǎn)生、放大和處理各種模擬信號(hào)。TPS51200DRCT現(xiàn)貨價(jià)格

隨機(jī)存取存儲(chǔ)器是常見類型的集成電路，所以密度高的設(shè)備是存儲(chǔ)器，但即使是微處理器上也有存儲(chǔ)器。盡管結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜－幾十年來芯片寬度一直減少－但集成電路的層依然比寬度薄很多。組件層的制作非常像照相過程。雖然可見光譜中的光波不能用來曝光組件層，因?yàn)樗麄兲罅?。高頻光子（通常是紫外線）被用來創(chuàng)造每層的圖案。因?yàn)槊總€(gè)特征都非常小，對(duì)于一個(gè)正在調(diào)試制造過程的過程工程師來說，電子顯微鏡是必要工具。在使用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）包裝前，每個(gè)設(shè)備都要進(jìn)行測(cè)試。TLV62130RGTR供貨公司集成電路的抗干擾能力也較強(qiáng)，即行話所說的噪聲容限較大，且電源電壓越高，抗干擾能力越強(qiáng)。

音響用集成電路包括AM/FM高中頻電路、立體聲解碼電路、音頻前置放大電路、音頻運(yùn)算放大集成電路、音頻功率放大集成電路、環(huán)繞聲處理集成電路、電平驅(qū)動(dòng)集成電路、電子音量控制集成電路、延時(shí)混響集成電路、電子開關(guān)集成電路等。影碟機(jī)用集成電路有系統(tǒng)控制集成電路、視頻編碼集成電路、MPEG解碼集成電路、音頻信號(hào)處理集成電路、音響效果集成電路、RF信號(hào)處理集成電路、數(shù)字信號(hào)處理集成電路、伺服集成電路、電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)集成電路等。錄像機(jī)用集成電路有系統(tǒng)控制集成電路、伺服集成電路、驅(qū)動(dòng)集成電路、音頻處理集成電路、視頻處理集成電路。

檢測(cè)集成電路是否正常，可采用：邏輯分析法：所謂邏輯分析法是指若懷疑某一集成電路有問題，可先測(cè)量該集成電路的輸入信號(hào)是否正常，再測(cè)量集成電路的輸出信號(hào)是否正常，若有輸入而無輸出，一般可判斷為該集成電路損壞。直流電阻比較法：直流電阻比較法是把要檢測(cè)的集成電路各引腳的直流電阻值與正常集成電路的直流電阻值相比較，以此來判斷集成電路的好壞。測(cè)量時(shí)要使用同一只萬用表，同一個(gè)電阻擋位，以減小測(cè)量誤差。直流電阻比較法可以對(duì)不同機(jī)型、不同結(jié)構(gòu)的集成電路進(jìn)行檢測(cè)，但須以相同型號(hào)的正常集成電路作為參照。中規(guī)模集成電路有數(shù)據(jù)選擇器、編碼譯碼器、觸發(fā)器、計(jì)數(shù)器、寄存器等。

雖然設(shè)計(jì)開發(fā)一個(gè)復(fù)雜集成電路的成本非常高，但是當(dāng)分散到通常以百萬計(jì)的產(chǎn)品上，每個(gè)集成電路的成本較小化。集成電路的性能很高，因?yàn)樾〕叽鐜矶搪窂?，使得低功率邏輯電路可以在快速開關(guān)速度應(yīng)用。這些年來，集成電路持續(xù)向更小的外型尺寸發(fā)展，使得每個(gè)芯片可以封裝更多的電路。這樣增加了每單位面積容量，可以降低成本和增加功能。集成電路中的晶體管數(shù)量，每1.5年增加一倍?？傊S著外形尺寸縮小，幾乎所有的指標(biāo)改善了－單位成本和開關(guān)功率消耗下降，速度提高。集成電路按其功能、結(jié)構(gòu)的不同，可以分為模擬集成電路和數(shù)字集成電路兩大類。LM2733XMFX/NOPB供貨公司

集成電路電壓診斷出現(xiàn)較早且運(yùn)用較廣，電壓測(cè)試的觀測(cè)信息是被測(cè)電路的邏輯輸出值。TPS51200DRCT現(xiàn)貨價(jià)格

集成電路電壓診斷出現(xiàn)較早且運(yùn)用較廣，電壓測(cè)試的觀測(cè)信息是被測(cè)電路的邏輯輸出值。此方法通過對(duì)電路輸入不同的測(cè)試向量得到對(duì)應(yīng)電路的邏輯輸出值，然后將采集的電路邏輯輸出值與該輸入向量對(duì)應(yīng)的電路預(yù)期邏輯輸出值進(jìn)行對(duì)比，來達(dá)到檢測(cè)電路在實(shí)際運(yùn)行環(huán)境中能否實(shí)現(xiàn)預(yù)期邏輯功能的目的。此方法簡(jiǎn)單卻并不適用于冗余較多的大規(guī)模的集成電路。若缺陷出現(xiàn)在冗余部分就無法被檢測(cè)出來。而且當(dāng)電路規(guī)模較大時(shí)，測(cè)試向量集也會(huì)成倍增長(zhǎng)，這會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)試向量的生成難且診斷效率低下等問題。TPS51200DRCT現(xiàn)貨價(jià)格

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