IC芯片選擇因素：電源管理的范疇比較廣，既包括單獨的電能變換（主要是直流到直流，即DC/DC），單獨的電能分配和檢測，也包括電能變換和電能管理相結(jié)合的系統(tǒng)。相應(yīng)的，電源管理芯片的分類也包括這些方面，比如線性電源芯片、電壓基準(zhǔn)芯片、開關(guān)電源芯片、LCD驅(qū)動芯片、LED驅(qū)動芯片、電壓檢測芯片、電池充電管理芯片等。下面簡要介紹一下電源管理芯片的主要類型和應(yīng)用情況：如果所設(shè)計的電路要求電源有高的噪音和紋波抑制，要求占用PCB板面積?。ㄈ缡謾C等手持電子產(chǎn)品），電路電源不允許使用電感器（如手機），電源需要具有瞬時校準(zhǔn)和輸出狀態(tài)自檢功能，要求穩(wěn)壓器壓降及自身功耗低，線路成本低且方案簡單，那么線性電源是較恰當(dāng)?shù)倪x擇。IC芯片在通電之后就會產(chǎn)生一個啟動指令，所有的晶體管就會開始傳輸數(shù)據(jù)，將特定的指令和數(shù)據(jù)輸出。TI ADS130B04QPWRQ1

若IC芯片各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值較大處入手，檢查外層元件有無故障，若無故障，則ic很可能損壞。對于動態(tài)接收裝置，如電視機，在有無信號時，ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。交流工作電壓測量法：為了掌握ic交流信號的變化情況，可以用帶有插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。TI TPS562208DDCRIC芯片的集成度是指單塊芯片上所容納的元件數(shù)目。集成度越高，所容納的元件數(shù)目越多。

IC芯片可靠性測試，芯片通過了功能與性能測試，得到了好的芯片，但是芯片會不會被冬天里討厭的靜電弄壞，在雷雨天、三伏天、風(fēng)雪天能否正常工作，以及芯片能用一個月、一年還是十年等等，這些都要通過可靠性測試進行評估。板級測試，主要應(yīng)用于功能測試，使用PCB板+芯片搭建一個“模擬”的芯片工作環(huán)境，把芯片的接口都引出，檢測芯片的功能，或者在各種嚴(yán)苛環(huán)境下看芯片能否正常工作。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是儀器儀表，需要制作的主要是EVB評估板。晶圓CP測試，常應(yīng)用于功能測試與性能測試中，了解芯片功能是否正常，以及篩掉芯片晶圓中的故障芯片。

通常把各電位器旋到機械中間位置，信號源采用一定場強下的標(biāo)準(zhǔn)信號，當(dāng)然，如能再記錄各功能開關(guān)位置，那就更有代表性。如果排除以上因素后，所測的個別引腳電壓還是不符標(biāo)稱值時，需進一步分析原因，但不外乎兩種可能。一是集成電路本身故障引起；二是集成塊外層電路造成。分辨出這兩種故障源，也是修理集成電路家電設(shè)備的關(guān)鍵。IC芯片是將大量的微電子元件如晶體管、微型電路、電容等多種電子設(shè)備進行高度集成，并將一塊塑料作為基礎(chǔ)而建立在上面的小型芯片，現(xiàn)在的大部分芯片都可以叫做IC芯片，它是現(xiàn)代社會高科技的象征，也是人類智慧的結(jié)晶。在IC芯片設(shè)計中，重要的步驟就是規(guī)格制定。

IC芯片對于離散晶體管有兩個主要優(yōu)勢：成本和性能。成本低是由于芯片把所有的組件通過照相平版技術(shù)，作為一個單位印刷，而不是在一個時間只制作一個晶體管。IC芯片（IntegratedCircuitChip）是將大量的微電子元器件（晶體管、電阻、電容等）形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片。IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片，相應(yīng)IC芯片生產(chǎn)線由晶圓生產(chǎn)線和封裝生產(chǎn)線兩部分組成。芯片中的晶體管分兩種狀態(tài)：開、關(guān)，平時使用1、0來表示，然后通過1和0來傳遞信號，傳輸數(shù)據(jù)。為了掌握ic交流信號的變化情況，可以用帶有插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。TI INA240A4EDRQ1

IC芯片的工作原理是：將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上從而進行運算與處理的。TI ADS130B04QPWRQ1

從IC芯片設(shè)計開始，就應(yīng)考慮到如何測試，是否應(yīng)添加DFT【DesignforTest】設(shè)計，是否可以通過設(shè)計功能自測試【FuncBIST】減少對外層電路和測試設(shè)備的依賴。在芯片開啟驗證的時候，就應(yīng)考慮出具的測試向量，應(yīng)把驗證的TestBench按照基于周期【Cyclebase】的方式來寫，這樣生成的向量也更容易轉(zhuǎn)換和避免數(shù)據(jù)遺漏等等。在芯片流片Tapout階段，芯片測試的方案就應(yīng)制定完畢，ATE測試的程序開發(fā)與CP/FT硬件制作同步執(zhí)行，確保芯片從晶圓產(chǎn)線下來就開啟調(diào)試，把芯片開發(fā)周期極大的縮短。TI ADS130B04QPWRQ1

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