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早期的電路故障診斷方法主要依靠一些簡(jiǎn)單工具進(jìn)行測(cè)試診斷，它極大地依賴于**或技術(shù)人員的理論知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。在這些測(cè)試方法中，常用的主要有四類：虛擬測(cè)試、功能測(cè)試、結(jié)構(gòu)測(cè)試和缺陷故障測(cè)試。虛擬測(cè)試不需要檢測(cè)實(shí)際芯片，而只測(cè)試仿真的芯片，適用于在芯片制造前進(jìn)行。它能及時(shí)檢測(cè)出芯片設(shè)計(jì)上的故障，但它并未考慮芯片在實(shí)際的制造和運(yùn)行中的噪聲或差異。功能測(cè)試依據(jù)芯片在測(cè)試中能否完成預(yù)期的功能來(lái)判定芯片是否存在故障。這種方法容易實(shí)施但無(wú)法檢測(cè)出非功能性影響的故障。結(jié)構(gòu)測(cè)試是對(duì)內(nèi)建測(cè)試的改進(jìn)，它結(jié)合了掃描技術(shù)，多用于對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的芯片進(jìn)行故障檢驗(yàn)。缺陷故障測(cè)試基于實(shí)際生產(chǎn)完成的芯片，通過(guò)檢驗(yàn)芯片的生產(chǎn)工藝質(zhì)量來(lái)發(fā)現(xiàn)是否包含故障。缺陷故障測(cè)試對(duì)專業(yè)技術(shù)人員的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)都要求很高。芯片廠商通常會(huì)將這四種測(cè)試技術(shù)相結(jié)合，以保障集成電路芯片從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)再到應(yīng)用整個(gè)流程的可靠性和安全性。然而，對(duì)于日趨復(fù)雜的電路系統(tǒng)，這些早期方法越發(fā)顯得捉襟見(jiàn)肘。經(jīng)過(guò)不斷的改進(jìn)和創(chuàng)新，許多新的思想和方法相繼問(wèn)世。蘇州回收工廠呆料IC市場(chǎng)價(jià)格新安正泰致力于回收舊電子芯片IC，歡迎新老客戶來(lái)電！

電子芯片拆卸方法：1．剪腳法：不傷板，不能再生利用。2．拖錫法：在IC腳兩邊上焊滿錫，利用高溫烙鐵來(lái)回拖動(dòng)，同時(shí)起出IC（易傷板，但可保全測(cè)試IC）。3．燒烤法：在酒精燈、煤氣灶、電爐上燒烤，等板上錫溶化后起出IC（不易掌握）。4．錫鍋法：在電爐上作錫鍋，待錫溶化后，將板上要卸的IC浸入錫鍋內(nèi)，即可起出IC又不傷板，但設(shè)備不易制作。5．電熱風(fēng)槍：用電熱風(fēng)槍卸片，吹要卸的IC引腳部分，即可將化錫后的IC起出。作為專業(yè)硬件維修，板卡維修是非常重要的項(xiàng)目之一。拿過(guò)來(lái)一塊有故障的主板，如何判斷具體哪個(gè)元器件出問(wèn)題呢？

首先，目前已經(jīng)知道一顆 IC 會(huì)產(chǎn)生多張的光罩，這些光罩有上下層的分別，每層有各自的任務(wù)。下圖為簡(jiǎn)單的光罩例子，以集成電路中基本的組件 CMOS 為范例，CMOS 全名為互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary metal–oxide–semiconductor)，也就是將 NMOS 和 PMOS 兩者做結(jié)合，形成 CMOS。對(duì)于 IC 設(shè)計(jì)應(yīng)該有初步的了解，整體看來(lái)就很清楚 IC 設(shè)計(jì)是一門(mén)非常復(fù)雜的專業(yè)，也多虧了計(jì)算機(jī)輔助軟件的成熟，讓 IC 設(shè)計(jì)得以加速。IC 設(shè)計(jì)廠十分依賴工程師的智能，這里所述的每個(gè)步驟都有其專門(mén)的知識(shí)，皆可成多門(mén)專業(yè)的課程，像是撰寫(xiě)硬件描述語(yǔ)言就不單純的只需要熟悉程序語(yǔ)言，還需要了解邏輯電路是如何運(yùn)作、如何將所需的算法轉(zhuǎn)換成程序、合成軟件是如何將程序轉(zhuǎn)換成邏輯閘等問(wèn)題。新安正泰回收舊電子芯片IC，歡迎您的來(lái)電！

電源電流通常與電路中所有的節(jié)點(diǎn)都是直接或間接相關(guān)的，因此基于電流的診斷方法能覆蓋更多的電路故障。然而電流診斷技術(shù)的提出并非是為了取代電壓測(cè)試，而是對(duì)其進(jìn)行補(bǔ)充，以提高故障診斷的檢測(cè)率和覆蓋率。電流診斷技術(shù)又分為靜態(tài)電流診斷和動(dòng)態(tài)電流診斷。靜態(tài)電流診斷技術(shù)的中心是將待測(cè)電路處于穩(wěn)定運(yùn)行狀態(tài)下的電源電流與預(yù)先設(shè)定的閾值進(jìn)行比較，來(lái)判定待測(cè)電路是否存在故障?？梢?jiàn)，閾值的選取便是決定此方法檢測(cè)率高低的關(guān)鍵。早期的靜態(tài)電流診斷技術(shù)采用的固定閾值，然而固定的閾值并不能適應(yīng)集成電路芯片向深亞微米的發(fā)展。于是，后人在靜態(tài)電流檢測(cè)方法上進(jìn)行了不斷的改進(jìn)，相繼提出了差分靜態(tài)電流檢測(cè)技術(shù)，電流比率診斷方法，基于聚類技術(shù)的靜態(tài)電流檢測(cè)技術(shù)等。動(dòng)態(tài)電流診斷技術(shù)于 90 年代問(wèn)世。動(dòng)態(tài)電流能夠直接反應(yīng)電路在進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)，其內(nèi)部電壓的切換頻繁程度?；趧?dòng)態(tài)電流的檢測(cè)技術(shù)可以檢測(cè)出之前兩類方法所不能檢測(cè)出的故障，進(jìn)一步擴(kuò)大故障覆蓋范圍。隨著智能化技術(shù)的發(fā)展與逐漸成熟，集成電路芯片故障檢測(cè)技術(shù)也朝著智能化的趨勢(shì)前進(jìn)。IC回收，就選新安正泰。揭陽(yáng)回收IC回收

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