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SEK-8501掃描隧道顯微鏡

【實驗原理】STM是SPM家族中基本也重要的微納米檢測與研究工具之一。其工作原理基于微探針（針尖）與樣品之間的隧道效應(yīng)及隧道電流。當一根十分尖銳的針尖在縱向充分逼近施加了一定偏壓的樣品表面至數(shù)納米甚至更小間距S時，針尖處的原子與樣品表面原子之間將產(chǎn)生隧道電流It。根據(jù)量子力學的隧道效應(yīng)理論，It與間距S之間存在負指數(shù)關(guān)系，探測隧道電流It的大小，即可檢測出間距S的大小，當針尖在橫向掃描樣品時，即可獲得根據(jù)隧道電流的變化而獲得樣品表面的三維微納米形貌。

【儀器特點】1.配置USB接口顯微成像模組，可實現(xiàn)微探針操作與進給過程的可視化，更好更直觀地滿足使用者的操作要求。2.臥式探頭設(shè)計，降低整體重心，具有更好的抗震性及穩(wěn)定性。3.探頭具備粗調(diào)和細調(diào)功能，兼顧調(diào)節(jié)效率和準確度。4.開放式設(shè)計，方便學生了解儀器組成和工作原理。5.獨特的壓電陶瓷管裝調(diào)工藝，保證整機的高可靠性和穩(wěn)定性。

【主要實驗內(nèi)容】1.理解和掌握掃描隧道顯微鏡的基本原理和組成。2.掃描隧道顯微鏡的探針制備和裝調(diào)。3.鍍金硅片樣品的測量和分析。4.石墨樣品的測量和分析(擴展)。 多通道紅外輻射測量裝置可同時測量多個輻射源，分析輻射分布。

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金屬電子逸出功實驗裝置利用熱電子發(fā)射法，測量金屬表面電子逸出功。浙江LED綜合特性測量實驗裝置歡迎選購

BEX-8202C，LED綜合特性測量裝置（光電基礎(chǔ)版）

【主要實驗內(nèi)容】1.伏安特性測試實驗。2.光強與電流關(guān)系實驗。3.光通量與電流關(guān)系實驗。4.LED輸出光空間分布特性測量實驗。

【儀器特點】1.幾個實驗模塊互不影響，又相輔相成，部件功能劃分定義明確，便于學生理解。2.實驗裝置各部件與軟件設(shè)計均按照教學用產(chǎn)品類標準設(shè)計。操作設(shè)置符合教學要求，并且軟件功能完善，包含有知識導航，單獨的測試模塊，讓學生在使用時邏輯思路清晰、易懂，能達到加深理論學習的作用。3.參數(shù)測試原理嚴格按照國內(nèi)外現(xiàn)行行業(yè)的測試標準。

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