使用光譜進行定性分析的儀器叫做光譜儀。使用分光棱鏡或者光柵產(chǎn)生光譜，并利用其中特定的某個或某段光譜線強度來進行定量分析的儀器叫做分光光度計。這兩種叫法基本沒差別，光譜儀都是要有分光組件的，比如ICP-AES,AAS。但是歷史上因為中國上海精密儀器廠首先將紫外可見分光光度計進行了國產(chǎn)化，當(dāng)時的技術(shù)難點也就在分光技術(shù)上。老一代的分析員都是把紫外可見分光光度計直接稱作分光光度計，所以分光光度計也特指紫外可見分光光度計。而熒光光譜儀、核磁共振光譜儀、掃描隧道光譜儀其實也是要有分光組件的，現(xiàn)在都是用光譜儀這個名詞來統(tǒng)稱了，因此光譜儀的概念比分光光度計范圍要大一些，新一些。而分光光度計更集中在定量分析方面的稱呼，有人把AES、AAS也稱作分光光度計因為它們在一般性的分析工作中也主要是用來定量的，這就造成了“分光光度計”和“光譜儀”兩種叫法的混亂。 便攜式光譜儀可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。直讀光譜儀精度
軟件通用操作系統(tǒng)，例如MSWindows7?遠(yuǎn)程服務(wù)系統(tǒng)（RSS）?每次測量都會顯示分析值?可以根據(jù)客戶要求設(shè)計不同分析程序?每個分析程序都有的分析參數(shù)?自動選擇程序（APF）?分析計算：背景修正，曲線位置修正，乘和加相互修正?以標(biāo)準(zhǔn)類型進行自動修正（類型校準(zhǔn)）?容易同時進行多個程序的重校正（BGR）?混料分選通過與參考工件的測量數(shù)據(jù)進行比較?牌號分析是與預(yù)設(shè)的牌號范圍進行比較?類型校正和類型測量?每個分析程序在相對和jue對含量的公差，可調(diào)整?可選測量結(jié)果的平均和標(biāo)準(zhǔn)偏差?當(dāng)數(shù)據(jù)超過校正曲線時，會有報警信號?輕松的同時重新校準(zhǔn)幾個程序?通過使用MCDC（多信道漂移校正）延長重校正所需的周期?自動提示定期重校正?自動顯示牌號或物料號?合金的牌號數(shù)據(jù)庫可達（取決于計算機存儲量）?顯示器上文字的大小可變。鋼研納克光譜儀報價行情光譜分析作為分析檢測的主流分析手段。
當(dāng)今ICP-AES儀器的發(fā)展趨勢是精確、簡捷、易用，且具有極高的分析速度。更加注重實際工作的需求及效率，使用者無需在儀器的調(diào)整上耗費時間和精力，從而能夠把更多的精力放在分析測定工作上，使ICP成為一個易操作、通用性的實用工具。而且儀器更具多樣化的適配能力，可根據(jù)實際工作需要選擇不同的配置，例如在同一臺儀器上可實現(xiàn)垂直觀測、水平觀測、雙向觀測，全波段覆蓋、分段掃描，無機、有機樣品、油樣分析，自動進樣器、超聲霧化器、氫化物發(fā)生器、流動注射進樣、固體進樣等多種配置形式，并可根據(jù)需求隨時升級，真正做到了一機多能，高效易用。新型的ICP商品儀器，綜合了前幾代儀器的優(yōu)點，對儀器的結(jié)構(gòu)、控制和軟件功能等方面進行調(diào)整、推出新一代的ICP儀器。由于高集成固體檢測器的普遍使用，高配置計算機的引入，使儀器在結(jié)構(gòu)上更加緊湊、功能更加完善，并在控制的可靠性、數(shù)據(jù)通用性上都有了質(zhì)的飛躍。
直讀光譜儀：主要用于分析金屬中的雜質(zhì)，不檢測主含量，主含量通過歸一法計算得出。目前多可分析16種基體（某元素在合金中的含量在45%以上的，該合金即歸類為某元素的基體內(nèi)）。制樣教簡單，適合于爐前及金屬材料的來料分析。特點是速度快、操作簡單，確實是必須有相應(yīng)分析材料的標(biāo)樣，同時對于致密度較差的金屬激發(fā)不太好，無法分析中間合金。ICP：分析范圍較廣，除作為工廠內(nèi)部質(zhì)量控制的儀器外還可為仲裁用。優(yōu)點是檢出限低，可分析部分純金屬，工廠內(nèi)一般用于實驗室檢測，除分析金屬外還可檢測粉末、水質(zhì)樣品；相對于直讀光譜儀來說好配置標(biāo)樣，分析那個元素配置那個元素的標(biāo)液就可以，無需要與樣品狀態(tài)完全一致；缺點是樣品需要溶樣，速度慢，前處理要求高熒光：主要用于粉末分析，與直讀和ICP不同的是可用于分析主量，前處理也有的設(shè)備，樣品需要壓片，同時標(biāo)樣也必須和分析樣品的狀態(tài)一致。采用了原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，通過光電倍增管可以測量出每個元素的比較好譜段。
對于光譜儀的具體介紹，下面就和小編一起來看看吧！光譜儀是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器。光譜儀有多種類型，除在可見光波段使用的光譜儀外，還有紅外光譜儀和紫外光譜儀。按色散元件的不同可分為棱鏡光譜儀、光柵光譜儀和干涉光譜儀等。按探測方法分，有直接用眼觀察的分光鏡，用感光片記錄的攝譜儀，以及用光電或熱電元件探測光譜的分光光度計等。單色儀是通過狹縫只輸出單色譜線的光譜儀器，常與其他分析儀器配合使用。光譜儀是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的儀器，棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成，利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。鑄造光譜儀廠家直銷
在質(zhì)控過程中，光譜分析已取代傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法。直讀光譜儀精度
光譜分析儀基體效應(yīng)是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。光譜分析儀基體效應(yīng)是個無法客觀，其物理實質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的射線和待測元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。直讀光譜儀精度
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