延遲線法是把被測信號分成兩路，一路信號經(jīng)過延遲線后與另一路經(jīng)過一個移相器移相后的信號進行鑒相，然后再濾波放大分析。延遲線的作用是將頻率的變化轉(zhuǎn)化為相位的變化，當頻率變化時，將在延遲線中引起相位正比例的變化。雙平衡混頻器將相位變化轉(zhuǎn)化為電壓變化。該測試方法具有載波抑制、調(diào)幅噪聲測試功能，測試時不需要額外的參考源，不需要信號同步，頻率漂移不再是問題。但是該測試方法比較大頻偏范圍受限，高頻時損耗較大，使得測試靈敏度較低，而且測試時需要校準，操作較為復雜。AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀,其不同型號的頻率范圍覆蓋了從1MHz到65GHz.江西高性能相噪分析儀市場報價

相位噪聲：在頻域上，數(shù)據(jù)偏移量用相位噪聲來定義。對于頻率為f0的時鐘信號而言，如果信號上不含抖動，則信號的所有功率應集中在頻率點f0處，由于任何信號都存在抖動，這些抖動有些是隨機的，有些是確定的，分布于相當廣的頻帶上，因此抖動的出現(xiàn)將使信號功率被擴展到這些頻帶上。信號的相位噪聲，就是信號在某一特定頻率處的功率分量，將這些分量連接成的曲線就是相位噪聲曲線。相位噪聲通常定義為在某一給定偏移處的dBc/Hz值，其中dBc是以dB為單位的該功率處功率與總功率的比值。如一個振蕩器在某一偏移頻率處的相位噪聲定義為在該頻率處1Hz帶寬內(nèi)的信號功率與信號總功率的比值，即在fm頻率處1Hz范圍內(nèi)的面積與整個噪聲頻率下的所有面積之比。APPH40G相噪分析儀相噪分析儀的功能：相位噪聲和加性相位噪聲、脈沖、抖動和艾倫偏差、瞬態(tài)分析、VCO 表征和頻譜監(jiān)測。

相位噪聲和抖動是對同一種現(xiàn)象的兩種不同的定量方式(描述)。抖動是一個時域概念，單位是ps或fs。相位噪聲是頻率域的概念，相位噪聲是用偏移頻率fm處1Hz帶寬內(nèi)的矩形的面積, 與整個功率譜曲線下包含的面積之比表示的，單位為-dBc/Hz。隨著現(xiàn)代數(shù)字系統(tǒng)的時鐘頻率越來越高，對高速芯片對時鐘的抖動要求都在1ps以下甚至fs級。示波器已經(jīng)無法滿足相關的測試要求，因此必須采用靈敏度更高的相位噪聲分析儀。AnaPico公司的APPH系列相噪分析儀以-190dBc/Hz的本底噪聲和小于5fs本底抖動而具有極高的靈敏度，能夠以高于時域抖動的靈敏度測量頻域中的相位噪聲并及其便利的轉(zhuǎn)換為對應的抖動數(shù)值。

相位噪聲的定義是什么？相位噪聲指標對目前的射頻微波系統(tǒng)、移動通信系統(tǒng)、雷達系統(tǒng)等電子系統(tǒng)有很大影響，將直接影響系統(tǒng)指標的優(yōu)劣。該指標是系統(tǒng)的研發(fā)、設計都有指導意義。相位噪聲指標的測試手段多種多樣，如何準確測量該指標是射頻微波領域的重要任務。隨著目前接收機相位噪聲指標的提高，相應的測試技術和測試手段也有了很大的提高。此外，與相位噪聲測試相關的其他測試要求也在增加，準確測試這些指標的方法也變得越來越重要。APPH相噪分析儀功能包括相位噪聲和加性相位噪聲、抖動和艾倫偏差、瞬態(tài)分析、VCO 表征和頻譜監(jiān)測。

相位噪聲測試結(jié)果同時包含相位噪聲和幅度調(diào)制噪聲，通常比相位噪聲小得多，因此可以忽略。因此，測試結(jié)果被認為是相位噪聲?；陬l譜分析儀的噪聲測試，無論是直接測量還是自動測試，都是這種情況。如果要分離相位噪聲和幅度調(diào)制噪聲，則只能使用相位鑒別測試方法。能夠分離相位噪聲和幅度調(diào)制噪聲只是相位噪聲測試方法的特性之一，提高相位噪聲測試靈敏度和提高相位噪聲測試能力是很重要的目的！微波頻率合成器可提供多倍頻程覆蓋范圍和出色的相位噪聲性能相位噪聲分析儀可測量相位噪聲、剩余相位噪聲、附加相位噪聲。天津操作簡單相噪分析儀基帶噪聲分析

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產(chǎn)生或增加相位噪聲的方法有兩種。一種方法是用噪音源直接調(diào)節(jié)振蕩器或VCO。電壓控制振蕩器(圖1a)使用鎖相環(huán)(PLL)鎖定相位，環(huán)路濾波器的帶寬低于小調(diào)制頻率。如果考慮的小相位噪聲的頻率偏差為10Hz(距離載波)，則將鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬設置為1Hz。通過將噪聲直接注入電壓控制振蕩器的頻率調(diào)節(jié)輸入端來調(diào)節(jié)VCO，從而在輸出端產(chǎn)生相位噪聲。此時，可以通過增加輸入噪聲密度來增加相位噪聲。產(chǎn)生相位噪聲的第二種方法是用相位調(diào)制器在相位鎖定的VCO輸出端調(diào)制載波信號。這種方法將噪聲注入到相位調(diào)制器，也就是在LCL配置中的一個低通濾波器2。江西高性能相噪分析儀市場報價

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