測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無法復(fù)制這些條件。舉例來說，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締栴}發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過的射頻房?jī)?nèi)開展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問題源并估計(jì)糾正有效性來開展問題的排查工作。在同一臺(tái)儀器上問時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。武漢充電樁EMI診斷原理

您可能會(huì)問：那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值（QP）檢波器？這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類分辨率帶寬（RBW）濾波器是窄帶的，其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn)，而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率進(jìn)行檢測(cè)加權(quán)從得出峰值的。使用不正確的濾波器和檢波器會(huì)影響設(shè)備返回的幅度值和頻率值。在一致性測(cè)試中，這兩個(gè)是強(qiáng)制遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而，對(duì)于EMI診斷它們不是決定性的，因?yàn)橹饕康氖菑奈锢砩虾碗姎馍献R(shí)別出輻射源。如果沒有實(shí)際的一致性精度要求，您獲得接近的估值已足夠用了。鄭州汽車電子EMI診斷測(cè)試儀待測(cè)設(shè)備上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。

電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在半電波暗室或者EMC開闊場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)量，測(cè)量天線與被測(cè)物的距離一般為3米或3米以上，給出的結(jié)果是一張頻譜圖，即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應(yīng)分別測(cè)試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測(cè)試EUT運(yùn)行過程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測(cè)設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過了標(biāo)準(zhǔn)的限值，被測(cè)設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。

EMI電磁干擾場(chǎng)地勘測(cè)：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測(cè)電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測(cè)只用一臺(tái)頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測(cè)有助于確定好的的EMI開闊測(cè)試場(chǎng)地。勘測(cè)的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計(jì)組的好的位置。大多數(shù)情況下，來自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對(duì)于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測(cè)試過程中用于監(jiān)視被測(cè)設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射發(fā)射電平。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。

電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無法通過EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問題。武漢充電樁EMI診斷原理

理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。武漢充電樁EMI診斷原理

各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)減小或消失﹐若會(huì)減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實(shí)測(cè)上很容易被疏忽﹐而會(huì)誤判機(jī)器的EMI為何每次測(cè)時(shí)好時(shí)壞﹐或花許多時(shí)間在其它的對(duì)策上面。武漢充電樁EMI診斷原理

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