近場(chǎng)工作區(qū)反射電平測(cè)試原理：采用自由空間電壓駐波比法測(cè)量近場(chǎng)工作區(qū)反射電平，測(cè)量原理是基于微波暗室中存在有直射信號(hào)和反射信號(hào)，微波暗室中空間任意一點(diǎn)的場(chǎng)強(qiáng)是直射信號(hào)和反射信號(hào)的矢量合，在空間形成駐波，駐波數(shù)值的大小就反映了微波暗室內(nèi)反射電平的大小。當(dāng)接收天線主瓣對(duì)準(zhǔn)發(fā)射天線時(shí)，所接收到的信號(hào)為ED。移動(dòng)接收天線，則接收天線的直射信號(hào)ED與反射信號(hào)ER的相對(duì)相位將會(huì)改變，此時(shí)接收天線收到的信號(hào)幅度將產(chǎn)生波動(dòng)，這一波動(dòng)反映空間固有駐波，由此即可得到反射電平。超出天線以外后，電磁場(chǎng)就會(huì)自動(dòng)脫離為能量包單獨(dú)傳播出去。山東手機(jī)近場(chǎng)輻射掃描儀

多功能輻射檢測(cè)儀采用補(bǔ)償型GM計(jì)數(shù)管作為探測(cè)器，具有靈敏度高等特點(diǎn)，可準(zhǔn)確測(cè)量γ射線與X射線；以彩色液晶屏為顯示器件，使操作更為簡(jiǎn)便與人性；具有劑量率和累積劑量雙閾值報(bào)警功能，在測(cè)量范圍內(nèi)，報(bào)警閾值可任意設(shè)置，可自動(dòng)記錄報(bào)警事件，并可手動(dòng)查看報(bào)警記錄。多功能輻射檢測(cè)儀的主要應(yīng)用及功能特點(diǎn)：輻射檢測(cè)儀普遍應(yīng)用于輻照加工、衛(wèi)生防疫、進(jìn)出口商檢、放射醫(yī)療、建材、石油化工、地質(zhì)普查、廢鋼鐵、核實(shí)驗(yàn)室等放射防護(hù)監(jiān)測(cè)領(lǐng)域。山東手機(jī)近場(chǎng)輻射掃描儀天線元件的電流產(chǎn)生磁場(chǎng)，方向每半個(gè)周期變換一次。

近場(chǎng)EMI測(cè)量的問(wèn)題在于使用近場(chǎng)探頭的測(cè)量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的結(jié)果無(wú)法直接進(jìn)行數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換。但是存在一個(gè)基本原理：近場(chǎng)的輻射越大，遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射也必然越大。所以使用近場(chǎng)探頭測(cè)量，實(shí)際上是一個(gè)相對(duì)量的測(cè)量，而不是精確的一定量測(cè)量。使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMI預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，我們常常把新被測(cè)件測(cè)試結(jié)果和一個(gè)已知合格被測(cè)件的近場(chǎng)探頭測(cè)試（近場(chǎng)測(cè)試）結(jié)果進(jìn)行比較，來(lái)預(yù)測(cè)EMI輻射泄漏測(cè)試（遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試）的結(jié)果，而不是直接和符合EMI兼容標(biāo)準(zhǔn)的限制線進(jìn)行比較。同時(shí)，測(cè)試的一定數(shù)值意義也不大，因?yàn)檫@個(gè)測(cè)試結(jié)果和諸多變量，包括探頭的位置方向、被測(cè)件的形狀等會(huì)密切相關(guān)。

柱面輻射近場(chǎng)測(cè)量能夠計(jì)算天線全部面的輻射方向圖，但在θ=-90°或90°時(shí)，柱面波展開式中漢克爾函數(shù)已無(wú)意義，所以，柱面輻射近場(chǎng)測(cè)量適用于天線方向圖為扇形波束天線的測(cè)量。球面輻射近場(chǎng)測(cè)量能夠計(jì)算除球心以外天線任意面上任意點(diǎn)的輻射場(chǎng)，但測(cè)量及計(jì)算時(shí)間都較長(zhǎng)。輻射近場(chǎng)測(cè)量的基本理論雖然已經(jīng)成熟，且在實(shí)用中也取得了較多的研究成果，但對(duì)以下問(wèn)題還應(yīng)進(jìn)行進(jìn)一步的探討研究：考慮探頭與被測(cè)天線多次散射耦合的理論公式。所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。通常，近場(chǎng)是指從天線開始到1個(gè)波長(zhǎng)(λ)的距離。

天線近場(chǎng)測(cè)量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應(yīng)用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)已有100多套。該技術(shù)的基本理論已基本成熟，這種測(cè)量方法的電參數(shù)測(cè)量精度比常規(guī)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量方法的測(cè)量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨(dú)特的優(yōu)越性。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過(guò)透鏡會(huì)聚后。山東手機(jī)近場(chǎng)輻射掃描儀

輻射區(qū)內(nèi)，電磁場(chǎng)開始輻射，標(biāo)志著遠(yuǎn)場(chǎng)的開始。山東手機(jī)近場(chǎng)輻射掃描儀

目標(biāo)成像的研究已有幾十年的歷史了，其研究成果早已用于醫(yī)學(xué)的X光診斷及雷達(dá)的目標(biāo)識(shí)別。用近場(chǎng)研究目標(biāo)的像是80年代末才開始的，它是在已知目標(biāo)散射近場(chǎng)和入射場(chǎng)情況下，利用微波分集技術(shù)，逆推或反演表征目標(biāo)幾何特征的目標(biāo)函數(shù)，由目標(biāo)函數(shù)給出目標(biāo)的幾何形狀，這一過(guò)程稱為目標(biāo)的近場(chǎng)成像。這種測(cè)量方法的另一致命弱點(diǎn)是測(cè)量時(shí)間很長(zhǎng)，測(cè)量時(shí)間與取樣點(diǎn)數(shù)幾乎成四次方的關(guān)系，實(shí)用目標(biāo)的測(cè)量時(shí)間達(dá)到了不可容忍的程度。測(cè)量環(huán)境對(duì)散射近場(chǎng)測(cè)量散射體電特性也有很大的影響，除了在測(cè)量區(qū)域附加吸收材料外，還需要用到“背景對(duì)消技術(shù)”，其基本原理為：在無(wú)散射體的情況下，先用收、發(fā)探頭對(duì)測(cè)量區(qū)域空間掃描一次，并記錄采樣數(shù)據(jù)；在有散射體的情況下，記錄這時(shí)掃描測(cè)量的采樣數(shù)據(jù)，在保證一維掃描器（取樣架）定位精度的條件下，利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)兩次對(duì)應(yīng)位置的測(cè)量數(shù)據(jù)逐點(diǎn)進(jìn)行矢量相減（復(fù)數(shù)相減），這樣就消除了環(huán)境對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。山東手機(jī)近場(chǎng)輻射掃描儀

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