射頻干擾（RFI）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)支持診斷和分析9kHz-40GHz射頻干擾（RFI）電磁波所帶來(lái)的干擾問(wèn)題，使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，支持-90dBm以上射頻信號(hào)分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多射頻干擾信號(hào)可視化分析功能，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的輻射雜散問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評(píng)估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評(píng)估、器件選型輻射雜散評(píng)估、成本降低輻射雜散性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射雜散性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。SSCG功能能夠通過(guò)將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來(lái)減少輻射?？焖俳鼒?chǎng)掃描

靜電放電（ESD）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式將100V-16kV的靜電放電(ESD)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，從而提高產(chǎn)品的靜電放電抗擾能力。普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊、儀器儀表等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、靜電放電敏感源頭定位、器件選型靜電放電性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的靜電放電抗干擾性能評(píng)估等方面。武漢手持式近場(chǎng)掃描儀器價(jià)格任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。

電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描的技術(shù)主要針對(duì)大尺寸的檢測(cè)對(duì)象，如無(wú)線局域網(wǎng)、蜂窩通訊等等空間通訊信號(hào)?？偟膩?lái)說(shuō)，主要技術(shù)大致可以分為兩種，一種采用尺寸較大的天線，另一種采用天線陣列。上述兩種技術(shù)針對(duì)的檢測(cè)對(duì)象尺寸在幾十厘米，甚至更大的尺寸。這兩種技術(shù)都意味著其空間分辨率將受到限制，同時(shí)其位移的精度和步長(zhǎng)也必然較為粗糙，若需實(shí)現(xiàn)小尺寸檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部較高精度的空間定位，則其空間位置控制平臺(tái)必須要求很聞，其實(shí)現(xiàn)復(fù)雜，且實(shí)現(xiàn)成本聞昂。

借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題，從而避免產(chǎn)生非預(yù)期的一致性測(cè)試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將輻射測(cè)試時(shí)間縮短兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺(tái)式掃描儀包括2，436條回路，可產(chǎn)生1，218個(gè)間隔為7.5mm的磁場(chǎng)探針，形成一個(gè)電子開關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為50kHz至4GHz，通過(guò)可選的軟件密鑰啟用。測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行精確的驗(yàn)證。

近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：測(cè)量一件介質(zhì)板對(duì)電磁波的響應(yīng)特征，需要用一個(gè)饋源發(fā)射電磁波，然后用一個(gè)采集設(shè)備來(lái)采集饋源發(fā)出的電磁波穿過(guò)該介質(zhì)板后的電磁波其空間各個(gè)點(diǎn)的電磁特性，然后利用處理設(shè)備將檢測(cè)到的空間各點(diǎn)的電磁特性值記錄下來(lái)并進(jìn)行分析，通過(guò)對(duì)比有、無(wú)介質(zhì)板電磁參數(shù)特性的變化，推導(dǎo)出介質(zhì)材料對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。以上過(guò)程需要通過(guò)三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)完成?，F(xiàn)有的三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)，饋源、介質(zhì)板及采集單元的位置都是手工調(diào)節(jié)的，測(cè)試效率低，定位又不準(zhǔn)確。借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題。快速近場(chǎng)掃描

目前為止，關(guān)于輻射、散射近場(chǎng)測(cè)量以及近場(chǎng)成像技術(shù)溶為一體的綜述性文章還未見到公開的報(bào)導(dǎo)?？焖俳鼒?chǎng)掃描

電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集，通過(guò)空間移動(dòng)平臺(tái)和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對(duì)探頭位置的準(zhǔn)確控制，通過(guò)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭與待測(cè)物品之間的距離，從而能夠準(zhǔn)確獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果，另外，探頭在掃描待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)時(shí)，采用逐點(diǎn)掃描，實(shí)時(shí)采集傳輸，即每一次探頭移動(dòng)，均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號(hào)分析裝置，避免掃描過(guò)程中，掃描裝置自身對(duì)待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的影響，以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對(duì)信號(hào)準(zhǔn)確度的影響，從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。快速近場(chǎng)掃描

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