故在EMI的問題上﹐常?？吹揭粋€(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對策﹐卻始終無法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對策方法﹐甚而視許多對策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對策修改時(shí)﹐會聽到很好EMI工程師說把所有EMI對策拿掉﹐就可以通過測試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對策觀念。待測設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以 便于從多個(gè)角度收集信號。鄭州集成電路EMI診斷測試儀

EMI電磁干擾場地勘測：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測只用一臺頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測有助于確定好的的EMI開闊測試場地?？睖y的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計(jì)組的好的位置。大多數(shù)情況下，來自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測試過程中用于監(jiān)視被測設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射發(fā)射電平。深圳通用EMI診斷近場測量是可用于EMI排查的一種測量，因?yàn)樗灰鬁y試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。

我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來似乎非常平凡簡單﹐不像介紹對策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。

示波器是快速了解有害輻射并找出它們來源的有效工具。在同一臺儀器上問時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。因?yàn)槭静ㄆ魇怯布O(shè)計(jì)工程師常用的儀器，它增強(qiáng)了研發(fā)階段的EMI排查能力，并且能夠在去EMC實(shí)驗(yàn)室前先做摸底測試，從而明顯提高了一致性測試的成功率。示波器也為您提供可用于定位、捕獲和分析輻射源的各種技術(shù)，歸納在下表中：示波器和傳統(tǒng)EMI測試設(shè)備進(jìn)行EMI診斷的技術(shù)列表，從定位和捕獲到分析有問題的輻射源。與通常的時(shí)域相關(guān)測量或其他常用射頻測試相比，EMI測量需要不同方法。EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來很簡單。

電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時(shí)﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經(jīng)過﹐當(dāng)然若情況允許﹐將整個(gè)組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關(guān)鍵的地方就是電線的問題﹐當(dāng)有了適當(dāng)?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應(yīng)的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。如果測試并不是所有階段都進(jìn)展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產(chǎn)品的發(fā)布日程。安徽GB9254EMI診斷

信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。鄭州集成電路EMI診斷測試儀

一個(gè)實(shí)際使用的設(shè)備箱體屏蔽效能測試方法與剛才描述的屏蔽盒測試方法相似，小發(fā)射天線放在設(shè)備箱體外部而不是屏蔽盒內(nèi)部。發(fā)射天線經(jīng)箱體屏蔽和未屏蔽的兩種情況下，用接收天線和頻譜分析儀測得的兩者之差即屏蔽效能值。如果設(shè)備箱體完全是金屬或射頻密封，它能夠很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情況下，屏蔽箱體帶有開口，如縫隙、未屏蔽的顯示屏、非金屬區(qū)域以及通風(fēng)口。如果屏蔽效能值沒滿足要求，這里就可以使用輻射發(fā)射測試中描述的故障診斷和檢測方法。鄭州集成電路EMI診斷測試儀