對(duì)于EMI傳導(dǎo)的部分，重點(diǎn)是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容（提供一條交流短路線）一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線（平面）上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方，避免因?yàn)樽呔€的阻抗（電感），讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當(dāng)然，合理串聯(lián)使用磁珠，可以“吸收”（轉(zhuǎn)換成熱能）這些雜訊。電感有時(shí)也可以用來(lái)濾除雜訊，但是請(qǐng)注意電感本身也是有頻率響應(yīng)范圍的，而且封裝也決定其頻率響應(yīng)……以上是一些基本的體會(huì)，對(duì)于EMI設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)，需要你真正瞭解你自己的設(shè)計(jì)，什麼地方需要重點(diǎn)照顧，什麼地方出了問(wèn)題會(huì)是什麼樣的現(xiàn)象，備選方案是什麼，都需要預(yù)先整理好。全世界幾乎所有有關(guān)部門(mén)都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。浙江多媒體EMI診斷頻譜儀
通常公司為了避免這樣的情景出現(xiàn)，會(huì)在設(shè)計(jì)和原型建立階段做一些“預(yù)先的一致性”測(cè)量。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測(cè)試之前就能夠確定和修復(fù)潛在的EMI問(wèn)題。當(dāng)然，大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。好消息是，無(wú)需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解決EMI問(wèn)題是完全可行的。本文討論的一些技術(shù)可以幫助你減少一個(gè)產(chǎn)品在測(cè)試室進(jìn)行終完整的EMC一致性評(píng)估時(shí)失敗的風(fēng)險(xiǎn)。本文還舉了一個(gè)確定信號(hào)特征和一致性以便找出EMI發(fā)射源的例子。廣東GJB151BEMI診斷元器件為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問(wèn)題中心的天線，你需要檢查被觀察信號(hào)的周期。
如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準(zhǔn)峰值檢波器結(jié)果和峰值檢波器結(jié)果都涉及相同的信號(hào)重復(fù)率，您可以用公式表示數(shù)學(xué)波形，或者在故障排查過(guò)程中考慮到這一點(diǎn)。另一方面，EMI濾波器只會(huì)略微改變結(jié)果。與測(cè)試接收機(jī)不同，示波器在設(shè)計(jì)上沒(méi)有內(nèi)置EMI一致性限值測(cè)試。使用大多數(shù)示波器都配有的模板測(cè)試，或遠(yuǎn)程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。然后，您可以進(jìn)一步設(shè)置更多的模板，發(fā)現(xiàn)感興趣的問(wèn)題區(qū)域。
在EMI，工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。由于每臺(tái)新被測(cè)設(shè)備都不同，根據(jù)EMI信號(hào)特征選擇正確的工具以及識(shí)別輻射源十分重要。當(dāng)涉及預(yù)一致性和一致性測(cè)試時(shí)，示波器的頻譜分析功能并不能取代傳統(tǒng)的EMI測(cè)試設(shè)備，如頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)。畢竟相對(duì)有限的動(dòng)態(tài)范圍和帶寬，缺少預(yù)選器、前置放大器和與標(biāo)準(zhǔn)兼容的加權(quán)檢波器，限值了示波器在EMI測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用。示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問(wèn)題。每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。示波器互補(bǔ)的方法為EMI排查診斷打開(kāi)了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。準(zhǔn)峰值與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。
EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。廣東GJB151BEMI診斷元器件
MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。浙江多媒體EMI診斷頻譜儀
射頻泄漏區(qū)的信息有利于設(shè)備設(shè)計(jì)的改善。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可以通過(guò)襯墊密封、附加屏蔽或一個(gè)全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)改善。對(duì)于勉強(qiáng)可接受的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)，應(yīng)特別注意箱體內(nèi)的電分布情況。例如：數(shù)字電路板不應(yīng)放在靠近易產(chǎn)生射頻泄漏的區(qū)域。應(yīng)注意屏蔽效能值不只從發(fā)射角度而且從敏感性角度來(lái)考慮都是有用的。如果EMI能從箱體出來(lái)，同樣它也能進(jìn)入箱體。因此，電路遠(yuǎn)離射頻窗口有助于防止因外界EMI源引起的電路敏感性問(wèn)題。在大屏蔽間或大屏蔽箱體的屏蔽效能測(cè)試中，頻譜分析儀是一種重要的測(cè)試和診斷工具。浙江多媒體EMI診斷頻譜儀