輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究，為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。前述的輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場(chǎng)測(cè)量值的幅度來重建天線遠(yuǎn)場(chǎng)的方法。無功近場(chǎng)區(qū)：又稱為電抗近場(chǎng)區(qū)，是天線輻射場(chǎng)中緊鄰天線口徑的一個(gè)近場(chǎng)區(qū)域。山東近場(chǎng)輻射掃描儀

天線口徑場(chǎng)分布診斷是通過測(cè)量天線近區(qū)場(chǎng)的分布逆推出天線口徑場(chǎng)分布，從而判斷出口徑場(chǎng)畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測(cè)量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對(duì)它們的測(cè)量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測(cè)量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測(cè)量精度為±5dB。廣東多媒體近場(chǎng)輻射抑制方式電磁場(chǎng)從天線向外發(fā)出，越向外越不明顯，特性也逐漸趨向平面。接收天線通常接收平面波。

個(gè)人輻射劑量?jī)x是一款小型高靈敏度的個(gè)輻射劑量報(bào)警儀，采用了型的低功耗嵌入式微處理器作為數(shù)據(jù)處理單元，探測(cè)器采用的是高靈敏的GM計(jì)數(shù)器。儀器具有響應(yīng)快，測(cè)量范圍寬,應(yīng)用范圍廣的特點(diǎn)。可監(jiān)測(cè)X、γ射線和硬β射線，是一款通用型輻射劑量測(cè)量?jī)x。個(gè)人輻射劑量?jī)x特點(diǎn)：1、監(jiān)測(cè)X、γ及硬β射線。2、儀器靈敏度高，對(duì)環(huán)境本底亦可測(cè)量；3、中、英文雙語操作界面。4、劑量率和累積劑量同時(shí)測(cè)量和顯。5、掉點(diǎn)后數(shù)據(jù)保存不丟失。6、圖形式液晶顯示，屏幕很大。7、功耗低，有電池欠壓指示功能。8、儀器可預(yù)置劑量率和累積劑量報(bào)警閾值

輻射近場(chǎng)測(cè)量的可信域：對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場(chǎng)點(diǎn)偏離天線口面法線方向的方向角）時(shí)，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場(chǎng)測(cè)量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測(cè)量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場(chǎng)掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，（1）式中L為掃描面的尺寸；X為天線口徑面的尺寸；d為掃描面到天線口徑面的距離。輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場(chǎng)測(cè)量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測(cè)量系統(tǒng)誤差以及測(cè)量環(huán)境誤差。對(duì)于平面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析尚未完成。轉(zhuǎn)發(fā)后的信號(hào)被調(diào)制為正弦波，電壓呈極性變化。

散射近場(chǎng)測(cè)量的發(fā)展動(dòng)態(tài)：散射體RCS的理論研究開始于60年代，早期的研究主要任務(wù)是對(duì)一些典型散射體（例如，板、球、柱體）進(jìn)行理論建模并進(jìn)行數(shù)值計(jì)算，取得了較多的研究成果，檢驗(yàn)計(jì)算結(jié)果正確與否的方法是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量或緊縮場(chǎng)法。這兩種方法中的任意一種方法都是由硬件來產(chǎn)生準(zhǔn)平面波的（等幅面上幅度的起伏值≤0.25dB，等相面上相位的起伏值≤22.5°），遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量法是利用增加散射體與照射源之間的距離R（通常R=5D2/λ，D為散射體截面的很大尺寸）來實(shí)現(xiàn)球面波到平面波的轉(zhuǎn)換；緊縮場(chǎng)法則是利用偏饋拋物面來產(chǎn)生平面波的。因而工程上稱為模擬平面波法，其主要缺陷是受外界環(huán)境影響很大，因此，實(shí)用起來有很多問題（如遠(yuǎn)場(chǎng)法中對(duì)測(cè)量場(chǎng)地有苛刻的要求；緊縮場(chǎng)法對(duì)主反射面的機(jī)械精度有嚴(yán)格的要求），為了克服這些問題，出現(xiàn)了散射近場(chǎng)的測(cè)量方法。近場(chǎng)是一個(gè)物理和化學(xué)條件急劇變化的復(fù)雜區(qū)域。福建儀器儀表近場(chǎng)輻射測(cè)試儀價(jià)格

在該區(qū)域中，電抗性儲(chǔ)能場(chǎng)占支配地位，該區(qū)域的界限通常取為距天線口徑表面λ/2π處。山東近場(chǎng)輻射掃描儀

近場(chǎng)探頭用于在研發(fā)階段測(cè)量電子模塊上的電場(chǎng)和磁場(chǎng)，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測(cè)量，比如貼近單個(gè)IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測(cè)量，從而定位干擾信號(hào)源。通過相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭，能夠測(cè)量出電子模塊上電磁場(chǎng)的方向及其分布。隨著5G時(shí)代的推進(jìn)，智能終端產(chǎn)品作為寬帶射頻應(yīng)用大的消費(fèi)市場(chǎng)面臨著一系列開發(fā)與驗(yàn)證的問題。其中，越來越小的設(shè)計(jì)空間與近場(chǎng)探頭電磁輻射雜散性能之間的矛盾，將是商業(yè)研究人員開發(fā)和驗(yàn)證中面臨的巨大挑戰(zhàn)。若要以更高的精度、更強(qiáng)的自信探索開創(chuàng)性的概念，來推動(dòng)現(xiàn)有技術(shù)發(fā)展、以創(chuàng)新創(chuàng)造**、將5G愿景轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)的過程中，我們不得不在工作中選擇更為適合我們的調(diào)試、測(cè)試解決方案。山東近場(chǎng)輻射掃描儀