射頻抗干擾(Desense)近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計，滿足研發(fā)級正向設(shè)計、整機、板級、芯片的射頻抗干擾Desense問題自動診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評估、更新方案設(shè)計的射頻抗干擾性能評估、天線仿真驗證等方面。工程師甚至可以在診斷一個間歇故障之后，對設(shè)計進(jìn)行更改，很快再進(jìn)行測試。武漢快速近場掃描儀器廠家
近場掃描儀的特點：1.適用于大型揚聲器：由于揚聲器不移動，因此可以測量大型揚聲器，并由吊車從天花板上支撐。2.避免遠(yuǎn)場測量的空氣衍射問題：大型揚聲器的遠(yuǎn)場測量需要大型消聲室以確保遠(yuǎn)場條件。這樣的測量將遭受由空氣在距離和時間上的溫度差異引起的衍射問題，導(dǎo)致較高頻帶中的相位響應(yīng)出現(xiàn)高誤差。在5m測量距離上，只2°C的溫度變化將在10kHz處產(chǎn)生180度的相位誤差。3.不需要消聲室可以使用場分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。比消聲室測量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。武漢快速近場掃描儀器廠家在第三代芯片組中，設(shè)計團(tuán)隊采用了一種不同的技術(shù)并升級了傳輸能力。
散射近場測量：1.天線口徑場分布診斷：天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對具有一維圓對稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。2.測量精度及誤差分析：輻射近場測量的研究與誤差分析的探討是同時進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場測量的主要誤差源為18項，大致分為4個方面，即探頭誤差、機械掃描定位誤差、測量系統(tǒng)誤差以及測量環(huán)境誤差。對于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，計算機模擬及各項誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。
某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過將輻射峰值能量擴展到更寬的頻帶上來減少輻射。，頻率變化發(fā)生在額定時鐘中心頻率（中心擴頻調(diào)制）附近，擴展的頻譜為正或負(fù)1.0%（fdev）。在接收器并行總線端，輸出以千赫茲（fmod）的調(diào)制速率隨時間調(diào)制時鐘頻率和數(shù)據(jù)頻譜。定制的串行解串器芯片組的目標(biāo)客戶是要求所安裝電子設(shè)備具有低EMI輻射特性的汽車廠商。該公司期望用令人信服的量化證據(jù)來向汽車廠商說明SSCG功能可以有效降低EMI輻射。為了實現(xiàn)這個目標(biāo)，設(shè)計團(tuán)隊首先在SSCG功能為“關(guān)”的情況下將待測器件（DUT）放其內(nèi)部掃描儀上，加電，然后在PC中捕獲輻射特性。為了進(jìn)行有效的對比，在打開SSCG功能的情況下，對同一待測器件進(jìn)行了掃描。高信噪比：近場中聲壓級高，對環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。
近場掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。用擴展光源照射光纖輸入端面，而在光纖輸出端面上逐點測量出射度，從而測出光纖折射率分布以及其他幾何特性參數(shù)的測試方法。也可用于測量模場直徑，其條件是要使輸入端面照明只激勵光纖基模。此法被推薦作為幾何參數(shù)測定的基準(zhǔn)測試法和單模光纖模場直徑的替代測試法，也被推薦作為多模光纖幾何參數(shù)和折射率分布測定的替代測試法。低頻測量更準(zhǔn)確，不需要房間校準(zhǔn)曲線。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性。武漢快速近場掃描儀器廠家
用戶可以自行對設(shè)計進(jìn)行測試，而不必依賴另外一個部門、測試工程師或進(jìn)行耗時的場外測試。武漢快速近場掃描儀器廠家
輻射近場測量需要解決的問題：（1）考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度，但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。（2）近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度：近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。（3）輻射近場掃頻測量的研究：就一般情況而言，天線都在一個頻帶內(nèi)工作，因此，各項電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個頻率點的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。武漢快速近場掃描儀器廠家