對(duì)于EMI傳導(dǎo)的部分，重點(diǎn)是要用好旁路電容和去藕電容。旁路電容（提供一條交流短路線）一定要以短的連線佈置在晶片電源管腳和地線（平面）上。去藕電容要放在電流需求變化大的地方，避免因?yàn)樽呔€的阻抗（電感），讓雜訊從電源和地線上藕合出去。當(dāng)然，合理串聯(lián)使用磁珠，可以“吸收”（轉(zhuǎn)換成熱能）這些雜訊。電感有時(shí)也可以用來(lái)濾除雜訊，但是請(qǐng)注意電感本身也是有頻率響應(yīng)范圍的，而且封裝也決定其頻率響應(yīng)……以上是一些基本的體會(huì)，對(duì)于EMI設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)，需要你真正瞭解你自己的設(shè)計(jì)，什麼地方需要重點(diǎn)照顧，什麼地方出了問(wèn)題會(huì)是什麼樣的現(xiàn)象，備選方案是什麼，都需要預(yù)先整理好。無(wú)需復(fù)制測(cè)試室條件就確定和解決EMI問(wèn)題是完全可行的。鄭州GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試

干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師（EMC）來(lái)講，頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外，還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估：1、材料的屏蔽效能，2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能，3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能，4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場(chǎng)地勘測(cè)。浙江儀器儀表EMI診斷測(cè)試方式問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。

EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決，雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多，必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。

我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說(shuō)明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來(lái)似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。示波器是快速了解有害輻射并找出它們來(lái)源的有效工具。

將連接EUT的周邊電纜逐一取下﹐看干擾的噪聲是否降低或消失。若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失﹐則可知此電纜已成為天線將機(jī)板內(nèi)的噪聲輻射出來(lái)。事實(shí)上﹐仔細(xì)分析造成EMI的關(guān)鍵﹐我們可以用一個(gè)很簡(jiǎn)單的模式來(lái)表示。任何EMI的Source必須要有天線的存在﹐才能產(chǎn)生輻射的情形﹐若只單獨(dú)存在噪聲源而沒(méi)有天線的條件﹐此輻射量是很小的﹐若將其連接到天線則由于天線效應(yīng)便把能量輻射到空間。所以EMI的對(duì)策除了針對(duì)噪聲源（Source）做處理外﹐重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線?？梢允褂梅逯禉z測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。長(zhǎng)沙常用EMI診斷測(cè)試方式

EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單。鄭州GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。鄭州GJB151BEMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試