平面散射近場(chǎng)測(cè)量的基本理論已由文獻(xiàn)［12～15］給出。其基本原理是綜合平面波法，綜合平面波的基本思想為：如果對(duì)一個(gè)由N個(gè)輻射單元組成的線陣同時(shí)進(jìn)行激勵(lì)，每個(gè)輻射單元產(chǎn)生一個(gè)準(zhǔn)球面波e（θ，φ），選擇一個(gè)與方向角（θ，φ）有關(guān)的權(quán)函數(shù)W（θ，φ）對(duì)每個(gè)e（θ，φ）進(jìn)行加權(quán)并求和（線性系統(tǒng)），則所得的加權(quán)求和函數(shù)近似為均勻平面波，對(duì)不同方向的（θ，φ）選擇不同W（θ，φ）就可以獲得不同方向上的平面波對(duì)被測(cè)目標(biāo)的照射。這一過(guò)程實(shí)現(xiàn)了對(duì)平面波的綜合（這與綜合口徑雷達(dá)SAR的概念極為相似），并很容易在計(jì)算機(jī)上完成。距離天線一定范圍內(nèi)，電場(chǎng)和磁場(chǎng)基本為平面并以直角相交。天津電氣電力近場(chǎng)輻射掃描儀

傳統(tǒng)的EMI輻射測(cè)試往往借助EMI接收機(jī)，在專業(yè)實(shí)驗(yàn)室的暗室里進(jìn)行，這固然可以對(duì)產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴(yán)格的測(cè)試，但往往測(cè)試周期長(zhǎng)、費(fèi)用較高，加之遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試只能測(cè)出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改善帶來(lái)不小的麻煩。隨著測(cè)試測(cè)量?jī)x器的發(fā)展，近幾年，近場(chǎng)探頭和頻譜分析儀的組合個(gè)EMI輻射的測(cè)試定位帶來(lái)了新的方向。為采用一個(gè)近場(chǎng)探頭和實(shí)時(shí)頻譜分析儀對(duì)一個(gè)電路進(jìn)行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測(cè)到在近場(chǎng)探頭附件有四個(gè)主要頻率的輻射，這對(duì)于硬件工程師進(jìn)行設(shè)計(jì)的改善是具有極大幫助的。成都手機(jī)近場(chǎng)輻射測(cè)試儀價(jià)格根據(jù)天線的種類，一種場(chǎng)會(huì)成為主導(dǎo)。

展示了典型的半波偶極子天線是如何產(chǎn)生電場(chǎng)和磁場(chǎng)的。轉(zhuǎn)發(fā)后的信號(hào)被調(diào)制為正弦波，電壓呈極性變化，因此在天線的各元件間生成了電場(chǎng)，極性每半個(gè)周期變換一次。天線元件的電流產(chǎn)生磁場(chǎng)，方向每半個(gè)周期變換一次。電磁場(chǎng)互為直角正交。圍繞著半波偶極子的電磁場(chǎng)包括一個(gè)電場(chǎng)和一個(gè)磁場(chǎng)，電磁場(chǎng)均為球形且互成直角。天線旁邊的磁場(chǎng)呈球形或弧形，特別是距離天線近的磁場(chǎng)。這些電磁場(chǎng)從天線向外發(fā)出，越向外越不明顯，特性也逐漸趨向平面。接收天線通常接收平面波。

天線周圍的空間電磁場(chǎng)根據(jù)特性的不同又可劃分為三個(gè)不同的區(qū)域：(a)感應(yīng)近場(chǎng)，(b)輻射近場(chǎng)，(c)輻射遠(yuǎn)場(chǎng)，它們的區(qū)分依靠離開(kāi)天線的不同距離來(lái)限定。在這些場(chǎng)區(qū)交界的距離處電磁場(chǎng)的結(jié)構(gòu)并無(wú)突變發(fā)生，但總體上來(lái)看，三個(gè)區(qū)域的電磁場(chǎng)特性是互不相同的。盡管有各種準(zhǔn)則來(lái)區(qū)分三者的邊界，但這些準(zhǔn)則并不是單獨(dú)的，我們需要了解的是相互之間的本質(zhì)區(qū)別：感應(yīng)近場(chǎng)區(qū)指靠近天線的區(qū)域。在此區(qū)域內(nèi)，由于感應(yīng)場(chǎng)分量占主導(dǎo)地位，其電場(chǎng)和磁場(chǎng)的時(shí)間相位差為90度，電磁場(chǎng)的能量是震蕩的，不產(chǎn)生輻射。雖然電磁場(chǎng)存在于天線周圍，但他們會(huì)向外擴(kuò)張。

相比而言，要在第三方測(cè)試箱中測(cè)試新設(shè)計(jì)，就要求工程師前往場(chǎng)外測(cè)試場(chǎng)所，并會(huì)耗費(fèi)大半天的時(shí)間。使用測(cè)試箱往往需要提前幾周安排，這會(huì)給開(kāi)發(fā)過(guò)程帶來(lái)極大的延誤。極近場(chǎng)掃描解決方案不會(huì)替代在測(cè)試箱中測(cè)試設(shè)計(jì)的需求。不過(guò)，這種儀器可以在簡(jiǎn)便的桌面系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)快速的前后一致性測(cè)試功能。與在測(cè)試箱中進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量相比，極近場(chǎng)EMI特性可以提供實(shí)時(shí)反饋。此外，這些測(cè)量結(jié)果與在測(cè)試箱中測(cè)得的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量結(jié)果具有很高的相關(guān)性。因此，諸如EMxpert等極近場(chǎng)儀器可以減少在測(cè)試箱中進(jìn)行類似測(cè)試的數(shù)量?？傊@可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)加快測(cè)試進(jìn)程，更快地得到測(cè)試箱測(cè)試的一致性測(cè)試結(jié)果。近區(qū)場(chǎng)的電磁場(chǎng)強(qiáng)度隨距離的變化比較快，在此空間內(nèi)的不均勻度較大。天津汽車電子近場(chǎng)輻射分析儀價(jià)格

場(chǎng)的強(qiáng)度和天線的距離成反比(1/ r3)。天津電氣電力近場(chǎng)輻射掃描儀

柱面輻射近場(chǎng)測(cè)量能夠計(jì)算天線全部面的輻射方向圖，但在θ=-90°或90°時(shí)，柱面波展開(kāi)式中漢克爾函數(shù)已無(wú)意義，所以，柱面輻射近場(chǎng)測(cè)量適用于天線方向圖為扇形波束天線的測(cè)量。球面輻射近場(chǎng)測(cè)量能夠計(jì)算除球心以外天線任意面上任意點(diǎn)的輻射場(chǎng)，但測(cè)量及計(jì)算時(shí)間都較長(zhǎng)。輻射近場(chǎng)測(cè)量的基本理論雖然已經(jīng)成熟，且在實(shí)用中也取得了較多的研究成果，但對(duì)以下問(wèn)題還應(yīng)進(jìn)行進(jìn)一步的探討研究：考慮探頭與被測(cè)天線多次散射耦合的理論公式。所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。天津電氣電力近場(chǎng)輻射掃描儀