眾所周知，在離開(kāi)被測(cè)目標(biāo)3λ～5λ（λ為工作波長(zhǎng)）距離上測(cè)量該區(qū)域電磁場(chǎng)的技術(shù)稱為近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)。如果被測(cè)目標(biāo)是輻射器，則稱為輻射近場(chǎng)測(cè)量；若被測(cè)目標(biāo)是散射體，則稱為散射近場(chǎng)測(cè)量；對(duì)測(cè)得散射體的散射近場(chǎng)信息進(jìn)行反演或逆推就能得到目標(biāo)的像函數(shù)，這就是目標(biāo)近場(chǎng)成像。但是，截止目前為止，關(guān)于輻射、散射近場(chǎng)測(cè)量以及近場(chǎng)成像技術(shù)溶為一體的綜述性文章還未見(jiàn)到公開(kāi)的報(bào)導(dǎo)，這對(duì)從事這方面研究的學(xué)者無(wú)疑是一種遺憾。為使同行們能全部地了解該技術(shù)的發(fā)展動(dòng)態(tài)，該文概述了近幾十年來(lái)關(guān)于輻射、散射近場(chǎng)測(cè)量及近場(chǎng)成像技術(shù)前人所做的工作及其新的進(jìn)展，并指出了未來(lái)研究的主要方向。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射明顯減少。高精度近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)

近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：其中，采集單元2如接收天線用于采集穿過(guò)介質(zhì)I后的電磁波在空間各個(gè)點(diǎn)上的電磁參數(shù)，移動(dòng)單元4例如電機(jī)、滑軌則輔助采集單元2在三維空間上以一定的步長(zhǎng)上下、左右或前后移動(dòng)，控制單元5用來(lái)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)單元4的啟動(dòng)、停止等。采集到的電磁參數(shù)被送到分析單元3，常用的分析單元3如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(即PNA)，可將電磁參數(shù)表征的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為處理單元6所能識(shí)別的數(shù)字信號(hào)。這里的處理單元6具備處理運(yùn)算能力，可將數(shù)字信號(hào)通過(guò)一定的運(yùn)算和處理，計(jì)算出空間各點(diǎn)的電磁參數(shù)分布特性，終得出該介質(zhì)I對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。由于需要采集空間中非常多的離散點(diǎn)，因此整個(gè)采集過(guò)程會(huì)非常漫長(zhǎng)，實(shí)驗(yàn)人員不可能始終在掃描系統(tǒng)守候直到掃描完成。但是一旦實(shí)驗(yàn)人員不在現(xiàn)場(chǎng)，當(dāng)掃描系統(tǒng)出現(xiàn)異常如移動(dòng)電機(jī)燒壞、室內(nèi)溫度過(guò)高等情況時(shí)，將造成系統(tǒng)損壞甚至其他不可預(yù)測(cè)的危害。高精度近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。

一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置與掃描方法，掃描裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集，通過(guò)空間移動(dòng)平臺(tái)和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對(duì)探頭位置的準(zhǔn)確控制，通過(guò)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭與待測(cè)物品之間的距離，從而能夠準(zhǔn)確獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果，另外，探頭在掃描待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)時(shí)，采用逐點(diǎn)掃描，實(shí)時(shí)采集傳輸，即每一次探頭移動(dòng)，均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號(hào)分析裝置，避免掃描過(guò)程中，掃描裝置自身對(duì)待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的影響，以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對(duì)信號(hào)準(zhǔn)確度的影響，從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。

一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置，包括探頭、空間移動(dòng)平臺(tái)、顯微攝像裝置、信號(hào)分析裝置和計(jì)算機(jī)；所述探頭和所述計(jì)算機(jī)分別與所述信號(hào)分析裝置連接，所述空間移動(dòng)平臺(tái)和所述顯微攝像裝置分別與所述計(jì)算機(jī)連接，所述探頭固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)；所述計(jì)算機(jī)發(fā)送指令，控制所述空間移動(dòng)平臺(tái)空間移動(dòng)，固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)的探頭移動(dòng)，逐點(diǎn)掃描待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)，實(shí)時(shí)采集待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的電信號(hào)數(shù)據(jù)，并將采集到的電信號(hào)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述信號(hào)分析裝置，所述信號(hào)分析裝置分析所述電信號(hào)數(shù)據(jù)，獲取信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)，并將所述信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述顯微攝像裝置監(jiān)測(cè)所述探頭與所述待測(cè)物品之間的距離，并將監(jiān)測(cè)獲得的距離數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)根據(jù)所述信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)和所述距離數(shù)據(jù)，處理獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果。對(duì)測(cè)得散射體的散射近場(chǎng)信息進(jìn)行反演或逆推就能得到目標(biāo)的像函數(shù)，這就是目標(biāo)近場(chǎng)成像。

輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問(wèn)題：1.時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。2.無(wú)相位的輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：前述的輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場(chǎng)測(cè)量值的幅度來(lái)重建天線遠(yuǎn)場(chǎng)的方法。近場(chǎng)掃描分系統(tǒng)是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，于2016年12月1日啟用。北京電磁波近場(chǎng)掃描儀器價(jià)格

某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。高精度近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)

EMI近場(chǎng)輻射特性：新一代串行解串器例子這是同一家半導(dǎo)體供應(yīng)商的第二個(gè)例子，該公司開(kāi)發(fā)了一個(gè)通過(guò)串行解串器進(jìn)行點(diǎn)到點(diǎn)傳輸?shù)牡诙酒M解決方案。在第三代芯片組中，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)采用了一種不同的技術(shù)并升級(jí)了傳輸能力。他們將雙向控制通道一起嵌入高速串行鏈路中，從而實(shí)現(xiàn)了雙向傳輸（全雙工）。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較之后，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)由于使用了SSCG功能導(dǎo)致電磁輻射顯著減少。汽車電子工程師很大的挑戰(zhàn)在于減少EMI輻射。客戶支持團(tuán)隊(duì)每次向汽車廠商客戶展示這些結(jié)果時(shí)，他們普遍都表現(xiàn)出了極大的興趣。任何降低EMI的功能（此案例中為SSCG功能）都可以縮短上市時(shí)間、降低屏蔽和成本支出。高精度近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)