從90年代末至今，近場微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場的復(fù)雜性，致使近場微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對運動方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實際中使用較少；而球背向投影法在實際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播，各種電磁波在真空中速率固定，速度為光速。上海歐盟CE輻射雜散實驗室

近場掃描測試能計入環(huán)境影響嗎?近場測試是測的近場的表面電流,或者說很近的電磁場,然后再計算成遠(yuǎn)場的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實近場測試只是對方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計算出的場也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進去,一起測試比如一塊大的ground,那也會是比較準(zhǔn)確的。通過上述實施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運動能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測設(shè)備之間的距離,自動化程度高,測試效率高。福建3G無線性能檢測我們很多的設(shè)計都是在採用包地以后，避免了時鐘信號的輻射超標(biāo)。

輻射近場測量需要解決的問題：（1）考慮探頭與被測天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對常規(guī)天線的測量有一定的精度，但對低副瓣或很低副瓣天線測量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。（2）近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度：近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進一步研究。（3）輻射近場掃頻測量的研究：就一般情況而言，天線都在一個頻帶內(nèi)工作，因此，各項電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個頻率點的電指標(biāo)，就需要進行掃頻測量。掃頻測量的理論與點頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。

輻射雜散快速測試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測試實驗室及預(yù)測試系統(tǒng)，體積更小，搬運更方便;【測試快】內(nèi)置16個接收天線，省去轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動時間，600MHz-13GHz測試時間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測試；【系統(tǒng)搭建簡單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線布置】可準(zhǔn)確識別雜散輻射源的方向和位置，并且實時呈現(xiàn)結(jié)果，方便進行樣品的“敲擊”測試，電連接性能測試及問題分析定位。信號接收端比較這兩個電壓的差值來判斷發(fā)送端發(fā)送的邏輯狀態(tài)。

EMI設(shè)計要點很多初學(xué)者對于EMI設(shè)計都摸不著頭腦，其實我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計以后，也逐漸有了一些體會。首先，對于大腦里面一定要清楚一個概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對于一般的EMI中的空間輻射來說，是由于信號的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點，要做的就是把信號回路的阻抗降下來?？刂菩盘柣芈返淖杩?，主要的辦法是縮短信號的長度，減少回路的面積，其次是採取合理的端接，控制回路的反射。其實控制信號回路的一個簡單的辦法就是對重點信號進行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因為雙面微帶模型阻抗有150歐姆，和自由空間布相上下，而包地可以提供幾十歐姆的阻抗），請注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的，所以好採用地平面或者地線多次接過孔到地平面。我很多的設(shè)計都是在採用包地以后，避免了時鐘信號的輻射超標(biāo)。EMI分析整改方法，歡迎來電咨詢。上海歐盟CE輻射雜散實驗室

輻射近場測量需要解決的問題有哪些？上海歐盟CE輻射雜散實驗室

EMI輻射近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。產(chǎn)品性能：EMI輻射近場探頭（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。（DC-9G）包括4個磁場探頭和1個電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動帶來的影響。產(chǎn)品特點：覆蓋有絕緣層的安全措施；非常方便的設(shè)計包括涂橡膠握把；非常小的尺寸，完善精確的干擾源定位；可以由一個信號源驅(qū)動產(chǎn)生的電磁敏感性測試領(lǐng)域。輻射近場區(qū)介乎于感應(yīng)近場區(qū)與輻射遠(yuǎn)場區(qū)之間，在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場分量都占據(jù)一定的比例，場的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離有關(guān)，也就是說，在不同的距離上計算出的天線方向圖是有差別的。上海歐盟CE輻射雜散實驗室

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