射頻抗干擾(Desense)近場電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場近場探頭(H-Probe)、高低頻磁場近場探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的射頻抗干擾Desense問題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的射頻抗干擾性能評(píng)估、天線仿真驗(yàn)證等方面。EMI分析整改中有效降低電路EMI的技巧，歡迎來電咨詢。江蘇中國SRRC輻射雜散檢測(cè)

從90年代末至今，近場微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場的復(fù)雜性，致使近場微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。北京自動(dòng)化無線性能優(yōu)勢(shì)輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號(hào)耦合(干擾)到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)。

輻射近場測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場測(cè)量對(duì)天線口徑場診斷的精度和速度：近場測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。

EMI輻射近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。產(chǎn)品性能：EMI輻射近場探頭（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測(cè)試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測(cè)量需求。（DC-9G）包括4個(gè)磁場探頭和1個(gè)電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動(dòng)帶來的影響。產(chǎn)品特點(diǎn)：覆蓋有絕緣層的安全措施；非常方便的設(shè)計(jì)包括涂橡膠握把；非常小的尺寸，完善精確的干擾源定位；可以由一個(gè)信號(hào)源驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生的電磁敏感性測(cè)試領(lǐng)域。輻射近場區(qū)介乎于感應(yīng)近場區(qū)與輻射遠(yuǎn)場區(qū)之間，在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場分量都占據(jù)一定的比例，場的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離有關(guān)，也就是說，在不同的距離上計(jì)算出的天線方向圖是有差別的。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。

輻射雜散（RSE）快速測(cè)量系統(tǒng)——小型化無線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）輻射雜散(RSE)性能快速測(cè)量系統(tǒng)，主要特點(diǎn)如下：【便捷化】相較于其他多天線微波屏蔽箱，體積更小，重量更輕，帶支架和腳輪，方便測(cè)試工位便捷移動(dòng)；【測(cè)試快】內(nèi)置16個(gè)接收天線，配合自動(dòng)化濾波開關(guān)單元，測(cè) 試速度快，專門的于生產(chǎn)線無線性能的快速抽檢；【接口多】箱體預(yù)留了豐富的射頻接口，用于天線信號(hào)的內(nèi)外 連接，方便通信與測(cè)量功能的擴(kuò)展，應(yīng)用更靈活；【準(zhǔn)確性】8方位，多天線布置，可準(zhǔn)確識(shí)別無線雜散輻射源的 方向和位置，測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定準(zhǔn)確；【凈空大】天線尺寸極小，內(nèi)部凈空區(qū)域大，各天線距離待測(cè) 物距離相等且對(duì)稱，測(cè)量結(jié)果一致性高；全自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)，可支持用戶定制化功能需求：1.用戶自定義測(cè)試模版參數(shù)設(shè)置；2.用戶自定義報(bào)告模版配置；3.硬件集成度較廣；4.操作界面簡潔?？焖俅判詷O近場測(cè)量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實(shí)時(shí)空間掃描結(jié)果的可視圖像。深圳GSM輻射雜散系統(tǒng)價(jià)格

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集成電路電磁兼容測(cè)試解決方案：小型化無線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）的 快速發(fā)展，集成電路(IC)體積逐漸向更小更密集的規(guī)格演進(jìn)， 且加上IC運(yùn)行速率的提升和成本的下降，使得IC EMC問題日 益受到重視，其中包含IC電磁輻射、輻射抗擾、脈沖抗擾以 及EOS失效模擬等測(cè)量解決方案已得到行業(yè)廣泛應(yīng)用，揚(yáng)芯 科技立足電磁兼容軟硬件自動(dòng)化測(cè)量方案開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)已具 備完整的IC EMC測(cè)量解決方案，符合歐洲、美國及日本等標(biāo) 準(zhǔn)測(cè)試要求，可提供針對(duì)手機(jī)、電腦、家電、汽車電子等IC 的EMC測(cè)量解決方案。江蘇中國SRRC輻射雜散檢測(cè)

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司致力于儀器儀表，是一家生產(chǎn)型公司。公司自成立以來，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下近場輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案深受客戶的喜愛。公司注重以質(zhì)量為中心，以服務(wù)為理念，秉持誠信為本的理念，打造儀器儀表良好品牌。揚(yáng)芯科技立足于全國市場，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，飛快響應(yīng)客戶的變化需求。