EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來(lái)壓制；3、也可改變整流二極管特性來(lái)處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓制共摸的方法（整改建議）對(duì)于外殼接地的，在地線上用一個(gè)磁環(huán)串繞2-3圈會(huì)對(duì)10MHZ以上干擾有較大的衰減作用；可選擇緊貼變壓器的鐵芯粘銅箔,銅箔閉環(huán)。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級(jí)大電路并聯(lián)電容的大小。電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問(wèn)題。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播，各種電磁波在真空中速率固定，速度為光速。上海4GLTE輻射雜散配置

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的快速分析測(cè)試及生產(chǎn)階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)，采用多天線、多角度快速切換測(cè)試，既保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，又縮短了測(cè)試時(shí)間，提升了測(cè)試效率，并且在性能分析時(shí)可以快速定位雜散信號(hào)的方向。系統(tǒng)占用空間小，可便捷移動(dòng)，可用于產(chǎn)品研發(fā)階段輻射雜散問(wèn)題分析及生產(chǎn)階段的批量抽檢。浙江吞吐量無(wú)線性能實(shí)驗(yàn)室電子、電器產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）是一項(xiàng)非常重要的質(zhì)量指標(biāo)。

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來(lái)源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問(wèn)題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來(lái)區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺(jué)得太麻煩，并且測(cè)試出來(lái)的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通過(guò)了，就說(shuō)明噪聲的干擾主要是差模干擾，或者更準(zhǔn)確地說(shuō)，通過(guò)壓低差模分量，就一定能夠搞定問(wèn)題。在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD整體介紹：電子產(chǎn)品在做ESD抗擾度測(cè)試時(shí)，一般會(huì)出現(xiàn)硬損壞和軟失效兩類故障現(xiàn)象，對(duì)于硬損壞類的故障，需要找到損壞位置、分析干擾傳遞的路徑，并在合適的位置增加或提升防護(hù)能力。對(duì)于軟失效類的故 障，比較大的難點(diǎn)在干擾范圍大，干擾路徑復(fù)雜，無(wú)法準(zhǔn)確的定位敏感源。可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)，按照IEC 61000-4-2 ESD抗擾度 標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)自動(dòng)控制系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)，用耦合探頭對(duì)待測(cè)物精細(xì)的施加干擾，測(cè)試過(guò)程中，外面監(jiān)測(cè)設(shè)備示波器、綜測(cè)儀等可實(shí)時(shí)的測(cè)量產(chǎn)品受擾后的性能異常，通過(guò)測(cè)試軟件可實(shí)時(shí)記錄靜電干擾的量級(jí)和產(chǎn)品的性能指標(biāo)，當(dāng)性能下降到預(yù)設(shè)的失效門限，對(duì)應(yīng)的干擾等級(jí)和位置就是PCB板上較為敏感的部位。方便的進(jìn)行受擾源頭、抗擾度分析，快速的給出產(chǎn)品級(jí)解決方案。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：■覆蓋輻射總功率TRP和靈敏度TIS等OTA測(cè)試功能項(xiàng)；■與標(biāo)準(zhǔn)OTA測(cè)量環(huán)境可穩(wěn)定修正對(duì)標(biāo)；■支持GSM、WCDMA、LTE、5GNR、WIFI、藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品測(cè)量；■測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)告一鍵自動(dòng)生成；■可擴(kuò)展其它性能測(cè)試及仿真功能。應(yīng)用領(lǐng)域：■2/3/4/5G、窄帶物聯(lián)網(wǎng)、WIFI/藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品輻射性能和接收靈敏度測(cè)量；■汽車、手機(jī)、電腦、智能家居、智能電表、共享單車、共享充電寶等終端設(shè)備；■天線設(shè)計(jì)的輻射性能和接收靈敏度性能評(píng)估；■仿真測(cè)試功能。傳導(dǎo)干擾是指通過(guò)導(dǎo)電介質(zhì)把一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)上的信號(hào)耦合(干擾)到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)。北京靈敏度無(wú)線性能實(shí)驗(yàn)室

電磁干擾(ElectromagneticInterference簡(jiǎn)稱EMI)又分為傳導(dǎo)干擾和輻射干擾兩種。上海4GLTE輻射雜散配置

EMI分析整改中有效降低電路EMI的技巧：當(dāng)存在一個(gè)磁場(chǎng)時(shí)，一個(gè)由導(dǎo)電材料形成的環(huán)路充當(dāng)了天線，并且把磁場(chǎng)轉(zhuǎn)換為圍繞環(huán)路流動(dòng)的電流。電流的強(qiáng)度與閉合環(huán)路的面積成正比。較小面積環(huán)路中通過(guò)的磁通量也少，感應(yīng)出的電流也較小，因此環(huán)路面積必須小。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。每根訊號(hào)好能做到與地的回流路徑短，回路面積越小，訊號(hào)的抗干擾能力越強(qiáng)，對(duì)外的EMI也達(dá)小。例如時(shí)脈訊號(hào)、高頻訊號(hào)等，在PCB設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行包地處理，并打些地孔，可有效降低EMI。EMI分析整改時(shí)不同的電源有不同的要求。真正的實(shí)際應(yīng)用中還有很多限制的，確實(shí)如此，板框?qū)е虏季值南拗?，空間的限制，EMI線路放不下，比如可控硅調(diào)光電源X電容不能太大，加太大了，燈會(huì)閃爍。有時(shí)電源不能加Y電容等。上海4GLTE輻射雜散配置

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