目標(biāo)成像的研究已有幾十年的歷史了，其研究成果早已用于醫(yī)學(xué)的X光診斷及雷達(dá)的目標(biāo)識(shí)別。用近場研究目標(biāo)的像是80年代末才開始的，它是在已知目標(biāo)散射近場和入射場情況下，利用微波分集技術(shù)，逆推或反演表征目標(biāo)幾何特征的目標(biāo)函數(shù)，由目標(biāo)函數(shù)給出目標(biāo)的幾何形狀，這一過程稱為目標(biāo)的近場成像。這種測量方法的另一致命弱點(diǎn)是測量時(shí)間很長，測量時(shí)間與取樣點(diǎn)數(shù)幾乎成四次方的關(guān)系，實(shí)用目標(biāo)的測量時(shí)間達(dá)到了不可容忍的程度。測量環(huán)境對散射近場測量散射體電特性也有很大的影響，除了在測量區(qū)域附加吸收材料外，還需要用到“背景對消技術(shù)”，其基本原理為：在無散射體的情況下，先用收、發(fā)探頭對測量區(qū)域空間掃描一次，并記錄采樣數(shù)據(jù)；在有散射體的情況下，記錄這時(shí)掃描測量的采樣數(shù)據(jù)，在保證一維掃描器（取樣架）定位精度的條件下，利用計(jì)算機(jī)軟件對兩次對應(yīng)位置的測量數(shù)據(jù)逐點(diǎn)進(jìn)行矢量相減（復(fù)數(shù)相減），這樣就消除了環(huán)境對測量數(shù)據(jù)的影響。在性能評價(jià)中，近場向遠(yuǎn)場的釋放量構(gòu)成了遠(yuǎn)場模式計(jì)算的源項(xiàng)。重慶 家電燈具近場輻射

從90年代末至今，近場微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場的復(fù)雜性，致使近場微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對運(yùn)動(dòng)方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。廣東電磁波近場輻射檢測遠(yuǎn)場開始于距離為2λ的地方。輻射出的正弦波和近場、遠(yuǎn)場。

傳統(tǒng)的EMI輻射測試往往借助EMI接收機(jī)，在專業(yè)實(shí)驗(yàn)室的暗室里進(jìn)行，這固然可以對產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴(yán)格的測試，但往往測試周期長、費(fèi)用較高，加之遠(yuǎn)場測試只能測出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改善帶來不小的麻煩。隨著測試測量儀器的發(fā)展，近幾年，近場探頭和頻譜分析儀的組合個(gè)EMI輻射的測試定位帶來了新的方向。為采用一個(gè)近場探頭和實(shí)時(shí)頻譜分析儀對一個(gè)電路進(jìn)行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測到在近場探頭附件有四個(gè)主要頻率的輻射，這對于硬件工程師進(jìn)行設(shè)計(jì)的改善是具有極大幫助的。

輻射近場測量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場掃頻測量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。近場測量對天線口徑場診斷的精度和速度：近場測量對常規(guī)陣列天線口徑場的診斷有較好的診斷精度，但對于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。在溫度和輻射場的影響下發(fā)生相互作用，并與地下水發(fā)生作用。

近場成像實(shí)驗(yàn)與常規(guī)的近場散射實(shí)驗(yàn)相比，其明顯差別就在于成像實(shí)驗(yàn)要進(jìn)行掃頻測量，這是理論所要求的。這樣，測量系統(tǒng)就必須具備寬頻帶特性。發(fā)射、接收系統(tǒng)儀器的系統(tǒng)誤差可以通過儀器自行校準(zhǔn)進(jìn)行消除，寬帶發(fā)射、接收探頭（天線）由于口徑尺寸較大以及與目標(biāo)之間的電磁耦合，所以對其發(fā)射、接收的電磁場必須進(jìn)行修正，修正的方法是在它們發(fā)射、接收的電磁場中乘以復(fù)系數(shù)，系數(shù)的量值由理論值與測量值的比值來定。在此修正理論下，對金屬長方體、圓柱體以及四尾翼導(dǎo)彈模型進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)測量，其成像結(jié)果是令人滿意的。在天線的各元件間生成了電場，極性每半個(gè)周期變換一次。重慶 家電燈具近場輻射

一般情況下，對于電壓高電流小的場源(如發(fā)射天線、饋線等)。重慶 家電燈具近場輻射

多功能輻射檢測儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：帶射線選擇開關(guān)、大值保持功能、可靠小巧的探測器、自動(dòng)存儲(chǔ)采樣數(shù)據(jù)、進(jìn)行輻射計(jì)量值累計(jì)、只需要每5年進(jìn)行一次校準(zhǔn)、小型化抗沖擊設(shè)計(jì)，攜帶方便、符合人機(jī)工程學(xué)原理，手感舒適、USB電腦接口，功能豐富的分析軟件、數(shù)據(jù)可數(shù)值實(shí)時(shí)遠(yuǎn)傳到電腦顯示和分析、大easy-to-read屏幕的高清晰LCD顯示。隨著頻譜分析和管理擴(kuò)展到了更新和更有挑戰(zhàn)的新領(lǐng)域，傳統(tǒng)的臺(tái)式頻譜分析儀的短板越來越顯現(xiàn)：難以適應(yīng)如今極其注重外場應(yīng)用的模式。重慶 家電燈具近場輻射