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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-04-22

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測(cè)試分選機(jī)

該突出部插入接合槽中以保持下匹配板相對(duì)于軌道的位置。本公開(kāi)還提供了一種測(cè)試分選機(jī),該測(cè)試分選機(jī)還包括:銷(xiāo),設(shè)置在壓板的一側(cè)處;第二銷(xiāo),設(shè)置在壓板的另一側(cè)處;支架,設(shè)置在下匹配板的一側(cè)處,并配置為與銷(xiāo)接合;以及第二支架,設(shè)置在下匹配板的另一側(cè)處,并配置為與第二銷(xiāo)接合。本公開(kāi)還提供了測(cè)試分選機(jī),其中在支架中形成有插入銷(xiāo)以支承支架的接合槽,在第二支架中形成有插入第二銷(xiāo)以支承第二支架的第二接合槽,接合槽包括:引導(dǎo)部分,配置為引導(dǎo)下匹配板,以使得隨著下匹配板的移動(dòng)開(kāi)始將銷(xiāo)插入接合槽,并且使得下匹配板朝軌道向上移動(dòng)并靠近軌道;以及安置部分,當(dāng)下匹配板接觸軌道時(shí),銷(xiāo)定位在安置部分中;并且第二接合槽包括:第二引導(dǎo)部分,配置為引導(dǎo)下匹配板,以使得隨著下匹配板的移動(dòng)開(kāi)始將第二銷(xiāo)插入第二接合槽,并且使得下匹配板朝軌道向上移動(dòng)并靠近軌道;以及第二安置部分,當(dāng)下匹配板接觸軌道時(shí),第二銷(xiāo)定位在第二安置部分中。本公開(kāi)還提供了測(cè)試分選機(jī),其中銷(xiāo)向前突出超過(guò)壓板,第二銷(xiāo)沒(méi)有向前突出超過(guò)壓板,支架沒(méi)有向后突出超過(guò)下匹配板,以及第二支架向后突出超過(guò)下匹配板。本公開(kāi)還提供了測(cè)試分選機(jī),該測(cè)試分選機(jī)還包括:移動(dòng)主體。廣東otp測(cè)試分選機(jī)廠商全自動(dòng)測(cè)試分選機(jī)的作用以及市場(chǎng)價(jià)值!

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本發(fā)明涉及測(cè)試分選機(jī)。背景技術(shù):測(cè)試分選機(jī)是支持對(duì)通過(guò)預(yù)定制造工藝制造的、諸如半導(dǎo)體裝置的電子部件的測(cè)試、根據(jù)測(cè)試結(jié)果按等級(jí)分類(lèi)電子部件、以及將電子部件安裝在用戶盤(pán)上的裝置。和是示出了典型的測(cè)試分選機(jī)的立體和平面。參照和,測(cè)試分選機(jī)可包括加載裝置、浸泡室、測(cè)試室、去浸泡室和卸載裝置。在測(cè)試盤(pán)和中提供了可安置電子部件的多個(gè)插入件。測(cè)試盤(pán)和可通過(guò)多個(gè)傳送裝置(未示出)沿預(yù)定封閉路線循環(huán)。加載裝置能夠在加載位置將安裝在用戶盤(pán)上的未測(cè)試的電子部件加載到測(cè)試盤(pán)和中。由于可能在不同的溫度環(huán)境下使用電子部件,所以有必要確定該電子部件是否在具體溫度環(huán)境下良好工作。在進(jìn)行測(cè)試之前,可在浸泡室中對(duì)安裝在測(cè)試盤(pán)和上的電子部件進(jìn)行預(yù)加熱或預(yù)冷卻。經(jīng)由浸泡室傳送至測(cè)試位置并安裝在測(cè)試盤(pán)和上的電子部件可在測(cè)試室中進(jìn)行測(cè)試。具體地,安裝在測(cè)試盤(pán)和上的電子部件可由推動(dòng)裝置朝向測(cè)試器推動(dòng)。電子部件和測(cè)試器可通過(guò)其接觸或接合彼此電連接。在該狀態(tài)下,可對(duì)電子部件執(zhí)行測(cè)試。推動(dòng)裝置可包括與測(cè)試盤(pán)和匹配的匹配板以及用于朝測(cè)試盤(pán)和移動(dòng)匹配板的配置。在匹配板的每個(gè)中都以矩陣案設(shè)置有多個(gè)推動(dòng)器。

除靜電功能的探頭結(jié)構(gòu)包括位置調(diào)節(jié)模塊、檢測(cè)探頭、離子風(fēng)機(jī)和三控制件,位置調(diào)節(jié)模塊與龍門(mén)焊件呈固定布置,檢測(cè)探頭以及離子風(fēng)機(jī)均與位置調(diào)節(jié)模塊呈固定布置,三控制件分別與位置調(diào)節(jié)模塊、檢測(cè)探頭和離子風(fēng)機(jī)呈電性連接;當(dāng)位置調(diào)節(jié)模塊調(diào)節(jié)至離子風(fēng)機(jī)處于i芯片的正上方時(shí),三控制件控制離子風(fēng)機(jī)i芯片上的靜電。檢測(cè)探頭具有朝向校正平臺(tái)結(jié)構(gòu)的探頭平面,當(dāng)位置調(diào)節(jié)模塊調(diào)節(jié)至檢測(cè)探頭的探頭平面與校正平臺(tái)結(jié)構(gòu)呈正對(duì)布置時(shí)。深圳市金創(chuàng)圖電子設(shè)備有限公司是一家集研發(fā)、銷(xiāo)售、生產(chǎn)和服務(wù)于一體的電子制造領(lǐng)域的自動(dòng)化設(shè)備制造企業(yè),工廠面各10000平方,公司主要生產(chǎn)IC燒錄機(jī)/測(cè)試機(jī)。在燒錄測(cè)試領(lǐng)域10多年的豐富經(jīng)驗(yàn),公司主要產(chǎn)品有全自動(dòng)KA3000機(jī)型、KA2000機(jī)型、KU4000機(jī)型、1213D機(jī)型、KA42-2000機(jī)型等,在知識(shí)產(chǎn)權(quán)方面,已經(jīng)取得了多項(xiàng)國(guó)家專(zhuān)利技術(shù)證書(shū)。公司自主研發(fā),走品牌路線的企業(yè)發(fā)展模式,堅(jiān)持已客戶和市場(chǎng)需求為導(dǎo)向,圍繞客戶和市場(chǎng)需求持續(xù)改善,合作共贏。拓展APP+物聯(lián)網(wǎng),設(shè)備租賃等模式,實(shí)現(xiàn)客戶、團(tuán)隊(duì)和個(gè)人的共同發(fā)展。檢測(cè)探頭檢測(cè)i芯片的燒錄狀態(tài)。三控制件與微型計(jì)算機(jī)呈電性連接。當(dāng)位置調(diào)節(jié)模塊調(diào)節(jié)至離子風(fēng)機(jī)處于i芯片的正上方時(shí)。深圳測(cè)試分選機(jī)廠家找金創(chuàng)圖。

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可在上匹配板的上端部分與第三軌道之間形成有預(yù)定空間,并且還可在下匹配板的下端部分與第二軌道之間形成預(yù)定空間。這初步考慮了相應(yīng)匹配板和匹配板的豎直熱膨脹。軌道、第二軌道和第三軌道可分別包括凸緣部分、、和(參見(jiàn))。這可防止匹配板和向前脫軌。如所示,可以矩陣形式在匹配板和匹配板中形成多個(gè)通孔和通孔。用于向前推動(dòng)安裝在測(cè)試盤(pán)上的電子部件的推動(dòng)器可進(jìn)行安裝以突出超過(guò)通孔和通孔,其中測(cè)試盤(pán)定位在與匹配板和匹配板前向間隔開(kāi)的位置上。壓板的通孔和推動(dòng)器的加熱介質(zhì)流動(dòng)路徑彼此連通。因而,可將加熱介質(zhì)供給至相應(yīng)的電子部件。、測(cè)試分選機(jī)的推動(dòng)裝置的放大側(cè)視。、測(cè)試分選機(jī)的支架的、從后側(cè)觀察的立體。、測(cè)試分選機(jī)的第二支架的、從后側(cè)觀察的立體。下文中,將參照至描述用于保持下匹配板相對(duì)于軌道的位置的結(jié)構(gòu)的一個(gè)示例。銷(xiāo)可設(shè)置在壓板的一側(cè)處,并且第二銷(xiāo)可設(shè)置在壓板的另一側(cè)處。對(duì)應(yīng)于銷(xiāo)和銷(xiāo),支架可設(shè)置在下匹配板的一側(cè),并且第二支架可設(shè)置在下匹配板的另一側(cè)。接合槽和接合槽可在支架和支架中形成。銷(xiāo)和銷(xiāo)可插入接合槽和接合槽中,以在上下方向上支承支架和支架。具體地,在壓板的一側(cè)處可設(shè)置有基礎(chǔ)部。銷(xiāo)可從基礎(chǔ)部向前突出。三合一的測(cè)試分選機(jī)只找金創(chuàng)圖電子。無(wú)錫芯片測(cè)試分選機(jī)價(jià)格

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