以往，人們將絕大多數(shù)精力放在設(shè)計(jì)本身，而并不考慮之后的測(cè)試，因?yàn)槟菚r(shí)的測(cè)試相對(duì)更為簡單。近年來，測(cè)試本身也逐漸成為一個(gè)龐大的課題。比如，從電路外部控制某些內(nèi)部信號(hào)使得它們呈現(xiàn)特定的邏輯值比較容易，而某些內(nèi)部信號(hào)由于依賴大量其它內(nèi)部信號(hào)，從外部很難直接改變它們的數(shù)值。此外，內(nèi)部信號(hào)的改變很多時(shí)候不能在主輸出端觀測(cè)（有時(shí)主輸出端的信號(hào)輸出看似正確，其實(shí)內(nèi)部狀態(tài)是錯(cuò)誤的，觀測(cè)主輸出端的輸出不足以判斷電路是否正常工作）。以上兩類問題，即可控制性和可觀測(cè)性，是可測(cè)試性的兩大組成部分。集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行電磁兼容性和抗干擾設(shè)計(jì)，以確保產(chǎn)品的穩(wěn)定性。蘇州哪個(gè)企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)好

集成電路設(shè)計(jì)通常是以“模塊”作為設(shè)計(jì)的單位的。例如，對(duì)于多位全加器來說，其次級(jí)模塊是一位的加法器，而加法器又是由下一級(jí)的與門、非門模塊構(gòu)成，與、非門終可以分解為更低抽象級(jí)的CMOS器件。從抽象級(jí)別來說，數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)可以是自頂向下的，即先定義了系統(tǒng)邏輯層次的功能模塊，根據(jù)頂層模塊的需求來定義子模塊，然后逐層繼續(xù)分解；設(shè)計(jì)也可以是自底向上的，即先分別設(shè)計(jì)體的各個(gè)模塊，然后如同搭積木一般用這些層模塊來實(shí)現(xiàn)上層模塊，終達(dá)到層次。白山有哪些企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)很好集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行市場調(diào)研和競爭分析，以滿足市場需求。

功能驗(yàn)證是項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)，驗(yàn)證人員需要為待測(cè)設(shè)計(jì)創(chuàng)建一個(gè)虛擬的外部環(huán)境，為待測(cè)設(shè)計(jì)提供輸入信號(hào)（這種人為添加的信號(hào)常用“激勵(lì)”這個(gè)術(shù)語來表示），然后觀察待測(cè)設(shè)計(jì)輸出端口的功能是否合乎設(shè)計(jì)規(guī)范。當(dāng)所設(shè)計(jì)的電路并非簡單的幾個(gè)輸入端口、輸出端口時(shí)，由于驗(yàn)證需要盡可能地考慮到所有的輸入情況，因此對(duì)于激勵(lì)信號(hào)的定義會(huì)變得更加復(fù)雜。有時(shí)工程師會(huì)使用某些腳本語言（如Perl、Tcl）來編寫驗(yàn)證程序，借助計(jì)算機(jī)程序的高速處理來實(shí)現(xiàn)更大的測(cè)試覆蓋率。

隨著現(xiàn)代集成電路的特征尺寸不斷下降，超大規(guī)模集成電路已經(jīng)進(jìn)入深亞微米級(jí)階段，互連線延遲對(duì)電路性能的影響已經(jīng)達(dá)到甚至超過邏輯門延遲的影響。這時(shí)，需要考慮的因素包括線網(wǎng)的電容效應(yīng)和線網(wǎng)電感效應(yīng)，芯片內(nèi)部電源線上大電流在線網(wǎng)電阻上造成的電壓降也會(huì)影響集成電路的穩(wěn)定性。為了解決這些問題，同時(shí)緩解時(shí)鐘偏移、時(shí)鐘樹寄生參數(shù)的負(fù)面影響，合理的布局布線和邏輯設(shè)計(jì)、功能驗(yàn)證等過程同等重要。隨著移動(dòng)設(shè)備的發(fā)展，低功耗設(shè)計(jì)在集成電路設(shè)計(jì)中的地位愈加。在物理設(shè)計(jì)階段，設(shè)計(jì)可以轉(zhuǎn)化成幾何圖形的表示方法，工業(yè)界有若干標(biāo)準(zhǔn)化的文件格式（如GDSII）予以規(guī)范。集成電路設(shè)計(jì)需要使用專業(yè)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具。

集成電路的設(shè)計(jì)會(huì)更加復(fù)雜，并且需要專門的工藝制造部門（或者外包給晶圓代工廠）才能將GDSII文件制造成電路。一旦集成電路芯片制造完成，就不能像可編程邏輯器件那樣對(duì)電路的邏輯功能進(jìn)行重新配置。對(duì)于單個(gè)產(chǎn)品，在集成電路上實(shí)現(xiàn)集成電路的經(jīng)濟(jì)、時(shí)間成本都比可編程邏輯器件高，因此在早期的設(shè)計(jì)與調(diào)試過程中，常用可編程邏輯器件，尤其是現(xiàn)場可編程邏輯門陣列；如果所設(shè)計(jì)的集成電路將要在后期大量投產(chǎn)，那么批量生產(chǎn)集成電路將會(huì)更經(jīng)濟(jì)。集成電路設(shè)計(jì)需要進(jìn)行市場定位和產(chǎn)品定位，以滿足不同市場和用戶的需求。白山哪個(gè)企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)好

集成電路設(shè)計(jì)需要考慮電路功能、性能和功耗等多個(gè)因素。蘇州哪個(gè)企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)好

相較數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)，模擬集成電路設(shè)計(jì)與半導(dǎo)體器件的物理性質(zhì)有著更大的關(guān)聯(lián)，例如其增益、電路匹配、功率耗散以及阻抗等等。模擬信號(hào)的放大和濾波要求電路對(duì)信號(hào)具備一定的保真度，因此模擬集成電路比數(shù)字集成電路使用了更多的大面積器件，集成度亦相對(duì)較低。在微處理器和計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)方法出現(xiàn)前，模擬集成電路完全采用人工設(shè)計(jì)的方法。由于人處理復(fù)雜問題的能力有限，因此當(dāng)時(shí)的模擬集成電路通常是較為基本的電路，運(yùn)算放大器集成電路就是一個(gè)典型的例子。蘇州哪個(gè)企業(yè)集成電路設(shè)計(jì)好

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