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EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓制共摸的方法（整改建議）對(duì)于外殼接地的，在地線上用一個(gè)磁環(huán)串繞2-3圈會(huì)對(duì)10MHZ以上干擾有較大的衰減作用；可選擇緊貼變壓器的鐵芯粘銅箔,銅箔閉環(huán)。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級(jí)大電路并聯(lián)電容的大小。電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問題。我們很多的設(shè)計(jì)都是在採用包地以后，避免了時(shí)鐘信號(hào)的輻射超標(biāo)。西安日本MIC輻射雜散解決方案輻...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室，體積小，設(shè)計(jì)有腳輪，易移動(dòng)搬遷；【省成本】無復(fù)雜工程安裝，經(jīng)濟(jì)性滿足研發(fā)或生產(chǎn)批量性預(yù)測(cè)試需求；【一致性】?jī)?nèi)置3D轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)試方式更接近于標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試方法，測(cè)試一致性好；【兼容性】自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)軟件可兼容集成各主流品牌、型號(hào)儀器儀表?！緮U(kuò)展性】除RSE外，基于屏蔽箱擴(kuò)展相應(yīng)設(shè)備和測(cè)試軟件，可支持SISOOTA、吞吐量、空口DFS性能、RFI自干擾等性能測(cè)試，更適用于研發(fā)階段的摸底及分析驗(yàn)證測(cè)試。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)：■一致性高，方便與標(biāo)準(zhǔn)chamber環(huán)境穩(wěn)定對(duì)標(biāo)，節(jié)省研發(fā)測(cè)試費(fèi)用；■支持TRP時(shí)時(shí)偵測(cè)，方便debug前后TRP一致性快速...

近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測(cè)試比如一塊大的ground,那也會(huì)是比較準(zhǔn)確的。通過上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測(cè)設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測(cè)試效率高。車載導(dǎo)航儀內(nèi)的DC/DC變換器工作在脈沖狀態(tài)下，本身就會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的寬帶干擾。山東多天線輻射雜散價(jià)格EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；應(yīng)用領(lǐng)用：■機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、停車場(chǎng)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)復(fù)雜電磁場(chǎng)景模擬；■研發(fā)階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■產(chǎn)品上市階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量等性能評(píng)估。電子、電器產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）是一項(xiàng)非常重要的質(zhì)量指標(biāo)。浙江家電燈具無線性能掃描...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測(cè)試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線布置】可準(zhǔn)確識(shí)別雜散輻射源的方向和位置，并且實(shí)時(shí)呈現(xiàn)結(jié)果，方便進(jìn)行樣品的“敲擊”測(cè)試，電連接性能測(cè)試及問題分析定位。傳導(dǎo)干擾是指通過導(dǎo)電介質(zhì)把一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)上的信號(hào)耦合(干擾)到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)。重慶 TIS無線性能系統(tǒng)價(jià)格EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會(huì)發(fā)生電磁干擾問題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號(hào)干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降或喪失。另外，由于產(chǎn)品布局布線、器 件選型不佳等原因，產(chǎn)品內(nèi)一些器件在工作時(shí)產(chǎn)生的無意發(fā)射電磁噪 聲也會(huì)干擾到射頻電路和天線，導(dǎo)致射頻靈敏度指標(biāo)的下降，從而影 響產(chǎn)品的無線性能。以上兩類問題的解決，必須要能夠基于實(shí)際場(chǎng)景 評(píng)估干擾風(fēng)險(xiǎn)，準(zhǔn)確分析關(guān)聯(lián)器件和部件的輻射特性及射頻抗擾度特 性?？梢暬椛淇箶_度診斷分析系統(tǒng)可用于對(duì)芯片、元器件、模...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺得太麻煩，并且測(cè)試出來的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，便于模擬不同的靈敏度環(huán)境；■支持Wi-Fi、藍(lán)牙等產(chǎn)品的吞吐量測(cè)試，丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室，可配合3D轉(zhuǎn)臺(tái)，支持EUT旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)多方向性能測(cè)試；■全自動(dòng)化測(cè)試軟件，界面操作簡(jiǎn)潔。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為近場(chǎng)衍射。天津SRD短距離無線性能廠家車載導(dǎo)航產(chǎn)品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。車載導(dǎo)航...

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。重慶 藍(lán)牙耳...

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。近場(chǎng)掃描儀使用移動(dòng)的麥克風(fēng)來掃描整體聲源（如揚(yáng)聲器系統(tǒng)或安裝在障板上的換能器）近場(chǎng)中的聲壓。被測(cè)設(shè)備（<500kg）在掃描過程中不會(huì)移動(dòng)，這樣，非消聲環(huán)境中的反射就可以保持一致并通過新穎的分析軟件進(jìn)行監(jiān)測(cè)，該軟件使用聲學(xué)全息和場(chǎng)分離技術(shù)...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來說，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號(hào)通過空間“輻射”出來。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來?？刂菩盘?hào)回路的阻抗，主要的辦法是縮短信號(hào)的長(zhǎng)度，減少回路的面積，其次是採取合理的端接，控制回路的反射。其實(shí)控制信號(hào)回路的一個(gè)簡(jiǎn)單的辦法就是對(duì)重點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆，和...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來壓制；3、也可改變整流二極管特性來處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓制共摸的方法（整改建議）對(duì)于外殼接地的，在地線上用一個(gè)磁環(huán)串繞2-3圈會(huì)對(duì)10MHZ以上干擾有較大的衰減作用；可選擇緊貼變壓器的鐵芯粘銅箔,銅箔閉環(huán)。處理后端輸出整流管的吸收電路和初級(jí)大電路并聯(lián)電容的大小。電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問題。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為近場(chǎng)衍射。武漢日本MIC輻射雜散優(yōu)勢(shì)隨著電氣電子技術(shù)的發(fā)展，家用...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺得太麻煩，并且測(cè)試出來的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通...

可視化近場(chǎng)輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67——整體介紹：電子產(chǎn)品在電磁兼容設(shè)計(jì)時(shí)，比較大的難點(diǎn)在于不能提前識(shí)別各芯片、組件、器件、走線等的電磁輻射特性。在整機(jī)的架構(gòu)堆疊和布局 布線設(shè)計(jì)中，輻射干擾較強(qiáng)的器件與輻射抗擾度較差的器件之前沒有 充足的隔離度，是導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部互干擾問題產(chǎn)生的根本原因。并且， 要解決產(chǎn)品電磁兼容問題，必須清楚的識(shí)別和分析其三要素：干擾 源、傳播路徑、敏感源。可視化近場(chǎng)輻射診斷分析系統(tǒng)可用于芯片、 元器件、模組件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場(chǎng)EMI輻射發(fā)射噪 聲的自動(dòng)化測(cè)量、可視化呈現(xiàn)、多維度分析，是解決各種復(fù)雜電磁輻 射*擾問題的有效工具。可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃...

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號(hào)耦合(干擾)到另一個(gè)電網(wǎng)絡(luò)。福建自動(dòng)化輻射雜散檢測(cè)人...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺得太麻煩，并且測(cè)試出來的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通...

PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。該近場(chǎng)探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。掃描儀支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)。PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)和電場(chǎng)，掃描儀和近場(chǎng)探頭系列的組合可以測(cè)量頻率范圍為100KHz-10GHz的電磁和磁場(chǎng)。該近場(chǎng)探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到L...

OTA快速測(cè)量系統(tǒng)——測(cè)試系統(tǒng)采用OTA技術(shù)及算法，結(jié)合信令和非信令模式以極快的時(shí)間完成關(guān)鍵指標(biāo)性能測(cè)試：1.樣品多模一站式測(cè)量2.支持多個(gè)樣品并行測(cè)量3.支持WLAN、2/3/4/5G產(chǎn)品4.準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性高5.維護(hù)簡(jiǎn)單、轉(zhuǎn)產(chǎn)方便；射頻（RF）指標(biāo)快速測(cè)量系統(tǒng)——藍(lán)牙/WIFI模塊等性能指標(biāo)評(píng)估時(shí)，可利用治具、屏蔽箱、儀表等組成的射頻指標(biāo)快速測(cè)量系統(tǒng)，具有如下特點(diǎn)：1.一鍵化腳本自動(dòng)測(cè)試2.支持功率/頻偏/調(diào)整/靈敏度等測(cè)試用例，可定制需求3.支持多家儀表廠商4.測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存、自動(dòng)判定，數(shù)據(jù)自動(dòng)匯總統(tǒng)計(jì)。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。山東5G無線性能哪里...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來說我們把菲涅耳衍射稱為近場(chǎng)衍射。指放射性廢物處置庫周圍由于處置庫的存在而產(chǎn)生較大變化的區(qū)域，包括所有的工程屏障（廢物體、廢物罐、外包裝和回填材料）和庫周圍延伸幾米或幾十米的圍巖。天線近場(chǎng)測(cè)量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。目...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：空口性能OTA自動(dòng)化系統(tǒng)主要由雙極化喇叭天線和小型偶極子校準(zhǔn)天線以及全覆膜吸波材料的電波暗室組成，主要用于手機(jī)、智能穿戴、無人機(jī)、路由器、智能機(jī)器人、小型終端等無線產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下使用的性能，如發(fā)射性能（TRP）、接收性能（TIS）等測(cè)試，也可結(jié)合信道模擬器、干擾源等，實(shí)現(xiàn)更多的性能評(píng)估。該系統(tǒng)具有成本低，性價(jià)比高、適用較廣、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、系統(tǒng)使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)勢(shì)。歡迎來電咨詢。（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問題也受到各國(guó)有關(guān)部門和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。鄭州BTWIFI輻射雜散優(yōu)勢(shì)一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置，包括探頭、空間移動(dòng)平臺(tái)、顯微攝像裝置...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問題：一次性很難通過昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺得太麻煩，并且測(cè)試出來的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通...

一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置，包括探頭、空間移動(dòng)平臺(tái)、顯微攝像裝置、信號(hào)分析裝置和計(jì)算機(jī)；所述探頭和所述計(jì)算機(jī)分別與所述信號(hào)分析裝置連接，所述空間移動(dòng)平臺(tái)和所述顯微攝像裝置分別與所述計(jì)算機(jī)連接，所述探頭固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)；所述計(jì)算機(jī)發(fā)送指令，控制所述空間移動(dòng)平臺(tái)空間移動(dòng)，固定于所述空間移動(dòng)平臺(tái)的探頭移動(dòng)，逐點(diǎn)掃描待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)，實(shí)時(shí)采集待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的電信號(hào)數(shù)據(jù)，并將采集到的電信號(hào)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述信號(hào)分析裝置，所述信號(hào)分析裝置分析所述電信號(hào)數(shù)據(jù)，獲取信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)，并將所述信號(hào)測(cè)量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)，所述顯微攝像裝置監(jiān)測(cè)所述探頭與所述待測(cè)物品之間的距離，并將監(jiān)測(cè)獲得的距離數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)品內(nèi)部的干擾不僅會(huì)通過走線串?dāng)_到PCB板內(nèi)部各 敏感電路導(dǎo)致故障，而且會(huì)通過電源平面、地平面等傳導(dǎo)到電路的各部分，所以很難定位到真實(shí)受擾的電路或者器件?？梢暬疎FT診斷分析系統(tǒng)，通過小范圍磁場(chǎng)耦合的方式，精確分析敏感電路，量化敏感等級(jí)，可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域，可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EFT問題診斷分析， 快速解決產(chǎn)品問題，提高研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)品內(nèi)部的干擾不僅會(huì)通過走線串?dāng)_到PCB板內(nèi)部各 敏感電路導(dǎo)致故障，而且會(huì)通過電源平面、地平面等傳導(dǎo)到電路的各部分，所以很難定位到真實(shí)受擾的電路或者器件?？梢暬疎FT診斷分析系統(tǒng)，通過小范圍磁場(chǎng)耦合的方式，精確分析敏感電路，量化敏感等級(jí)，可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域，可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EFT問題診斷分析， 快速解決產(chǎn)品問題，提高研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：■覆蓋輻射總功率TRP和靈敏度TIS等OTA測(cè)試功能項(xiàng)；■與標(biāo)準(zhǔn)OTA測(cè)量環(huán)境可穩(wěn)定修正對(duì)標(biāo)；■支持GSM、WCDMA、LTE、5GNR、WIFI、藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品測(cè)量；■測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)告一鍵自動(dòng)生成；■可擴(kuò)展其它性能測(cè)試及仿真功能。應(yīng)用領(lǐng)域：■2/3/4/5G、窄帶物聯(lián)網(wǎng)、WIFI/藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品輻射性能和接收靈敏度測(cè)量；■汽車...

輻射/傳導(dǎo)快速測(cè)量系統(tǒng)——與傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)不同，該快速測(cè)量系統(tǒng)采用多天線法，具有如下優(yōu)勢(shì)：1.根據(jù)產(chǎn)品要求選擇不同的替代方案；2.設(shè)置預(yù)警限值，提前篩選風(fēng)險(xiǎn)產(chǎn)品；3.測(cè)試精度與標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境相近；4.自動(dòng)化測(cè)量，測(cè)試周期短；無線產(chǎn)品功耗測(cè)量系統(tǒng)——無線功耗自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)主要用于產(chǎn)品在不同工作模式、不同工作環(huán)境和不同傳輸速率下數(shù)據(jù)傳輸?shù)墓臏y(cè)試：1.自動(dòng)運(yùn)行配置腳本；2.支持待機(jī)功耗和發(fā)射功耗測(cè)量；3.支持藍(lán)牙、WiFi、2/3/4/5G手機(jī)等功耗測(cè)量；4.系統(tǒng)環(huán)境不受干擾、測(cè)量精度高。在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來說是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。浙江汽車電子無線性能測(cè)試方法可視化EMC(電磁兼容)近...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：空口性能OTA自動(dòng)化系統(tǒng)主要由雙極化喇叭天線和小型偶極子校準(zhǔn)天線以及全覆膜吸波材料的電波暗室組成，主要用于手機(jī)、智能穿戴、無人機(jī)、路由器、智能機(jī)器人、小型終端等無線產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下使用的性能，如發(fā)射性能（TRP）、接收性能（TIS）等測(cè)試，也可結(jié)合信道模擬器、干擾源等，實(shí)現(xiàn)更多的性能評(píng)估。該系統(tǒng)具有成本低，性價(jià)比高、適用較廣、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、系統(tǒng)使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)勢(shì)。歡迎來電咨詢。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來。武漢韓國(guó)KC輻射雜散檢測(cè)無線產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境下的EMC評(píng)估方案——無線穿戴產(chǎn)品可能在機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的快速分析測(cè)試及生產(chǎn)階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)，采用多天線、多角度快速切換測(cè)試，既保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，又縮短了測(cè)試時(shí)間，提升了測(cè)試效率，并且在性能分析時(shí)可以快速定位雜散信號(hào)的方向。系統(tǒng)占用空間小，可便捷移動(dòng)，可用于產(chǎn)品研發(fā)階段輻射雜散問題分析及生產(chǎn)階段的批量抽檢。人們周邊所有的物體時(shí)刻都在進(jìn)行電磁輻射。武漢多媒體無線性能...

EMC、RF診斷分析系統(tǒng)：用較少的資金達(dá)到我們想要的目標(biāo)，研發(fā)實(shí)驗(yàn)室能力整體規(guī)劃步驟如下：1.確定研發(fā)產(chǎn)品類型，了解產(chǎn)品電氣參數(shù)及所需的測(cè)試項(xiàng)目；2.選擇合適的診斷分析方法；3.選擇診斷分析工具的類型、儀器設(shè)備、測(cè)試環(huán)境以及對(duì)策器件4.實(shí)驗(yàn)室日常運(yùn)營(yíng)及資料庫建立；診斷分析系統(tǒng)具有如下優(yōu)勢(shì)：1.適用于EMC、RF問題診斷分析、更換物料、風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估、降成本方案驗(yàn)證；2.投入產(chǎn)出比高；3.數(shù)據(jù)可視化、定位精細(xì)、分析診斷問題效率高；4.診斷分析系統(tǒng)與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)互補(bǔ)，更適合產(chǎn)品研發(fā)；5.操作簡(jiǎn)單，降低人員技術(shù)門檻。人眼可接收到的電磁輻射，波長(zhǎng)大約在380至780納米之間，稱為可見光。上海產(chǎn)線無線性能價(jià)格...

集成電路電磁兼容測(cè)試解決方案：小型化無線終端產(chǎn)品（如手機(jī)、平板智能穿戴產(chǎn)品）的 快速發(fā)展，集成電路(IC)體積逐漸向更小更密集的規(guī)格演進(jìn)， 且加上IC運(yùn)行速率的提升和成本的下降，使得IC EMC問題日 益受到重視，其中包含IC電磁輻射、輻射抗擾、脈沖抗擾以 及EOS失效模擬等測(cè)量解決方案已得到行業(yè)廣泛應(yīng)用，揚(yáng)芯 科技立足電磁兼容軟硬件自動(dòng)化測(cè)量方案開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)已具 備完整的IC EMC測(cè)量解決方案，符合歐洲、美國(guó)及日本等標(biāo) 準(zhǔn)測(cè)試要求，可提供針對(duì)手機(jī)、電腦、家電、汽車電子等IC 的EMC測(cè)量解決方案。PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。天津...