電子散斑干涉技術(shù)特點(diǎn)：技術(shù)優(yōu)勢納米級位移靈敏度全場實(shí)時測量能力對振動不敏感可測微小變形系統(tǒng)配置要點(diǎn)激光光源穩(wěn)定性<0.5%防振光學(xué)平臺相移裝置精度λ/100溫控環(huán)境建議±1℃典型應(yīng)用場景微電子器件熱變形MEMS器件測試薄膜殘余應(yīng)力分析微納尺度力學(xué)行為，系統(tǒng)集成解決方案與力學(xué)測試設(shè)備聯(lián)用原位加載系統(tǒng)同步控制多物理場數(shù)據(jù)融合實(shí)時應(yīng)變反饋系統(tǒng)異構(gòu)圖譜數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)特殊環(huán)境集成(1)高溫環(huán)境：耐高溫鏡頭保護(hù)熱輻射校正算法藍(lán)光照明方案(2)真空環(huán)境：光學(xué)窗口長距顯微配置防污染設(shè)計(jì)(3)液體環(huán)境：防水觀測窗折射率補(bǔ)償懸浮粒子示蹤。通過測量材料在受力情況下的應(yīng)變分布，可以了解材料的強(qiáng)度、韌性、疲勞壽命等性能指標(biāo)。安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測量

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)是近年來快速發(fā)展的材料力學(xué)性能測試方法，其原理是通過光學(xué)手段獲取材料表面變形信息，進(jìn)而計(jì)算應(yīng)變場分布。與傳統(tǒng)接觸式測量相比，該技術(shù)具有全場測量、不干擾被測對象等優(yōu)勢。研索儀器科技（上海）有限公司在該領(lǐng)域的技術(shù)積累已形成完整解決方案。當(dāng)前主流的光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)主要包括：數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）電子散斑干涉術(shù)（ESPI）數(shù)字全息干涉術(shù)光柵投影輪廓術(shù)，數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)詳解系統(tǒng)組成架構(gòu)(1)圖像采集系統(tǒng)：高分辨率工業(yè)相機(jī)（500萬像素以上）長工作距顯微鏡頭（可選）同步觸發(fā)控制單元多相機(jī)立體視覺配置(2)照明系統(tǒng)：同軸冷光源照明高均勻度面光源脈沖式激光光源（高速應(yīng)用）(3)軟件分析平臺：三維位移場重構(gòu)算法應(yīng)變計(jì)算引擎數(shù)據(jù)可視化模塊第三方數(shù)據(jù)接口關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)位移測量分辨率：0.01像素應(yīng)變測量范圍：0.005%-200%，采集幀率：100,000fps（高速型）視場范圍：1mm2-1m2（可調(diào)）。安徽全場三維非接觸式應(yīng)變測量系統(tǒng)光學(xué)測量技術(shù)不只精度高，還能適應(yīng)各種環(huán)境和條件，是現(xiàn)代建筑物變形監(jiān)測的理想選擇。

   機(jī)械式應(yīng)變測量方法：機(jī)械式應(yīng)變測量已經(jīng)有很長的歷史，其主要利用百分表或千分表測量變形前后測試標(biāo)距內(nèi)的距離變化而得到構(gòu)件測試標(biāo)距內(nèi)的平均應(yīng)變。工程測量中使用的機(jī)械式應(yīng)變測量儀器主要包括手持應(yīng)變儀和千分表引伸計(jì)。機(jī)械式應(yīng)變測量方法主要優(yōu)點(diǎn)是讀數(shù)直觀、環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)、可重復(fù)性使用等。但需要人工讀數(shù)、費(fèi)時費(fèi)力、精度差，對于應(yīng)變測點(diǎn)數(shù)量眾多的橋梁靜載試驗(yàn)顯然不合適。因此，除了少數(shù)室內(nèi)模型試驗(yàn)的特殊需要，工程結(jié)構(gòu)中很少使用。

    對于復(fù)合材料的拉伸試驗(yàn)，可以使用試樣一側(cè)單應(yīng)變測量來測量軸向應(yīng)變。然而，通過在試樣的相對兩側(cè)進(jìn)行測量并計(jì)算它們的平均值，可以得到更一致和準(zhǔn)確的結(jié)果。使用平均應(yīng)變測量對于壓縮測試至關(guān)重要，因?yàn)閮纱螠y量之間的差異用于檢查試樣是否過度彎曲。通常在拉伸和壓縮測試中確定泊松比需要額外測量橫向應(yīng)變。剪切試驗(yàn)時需要確定剪切應(yīng)變，剪切應(yīng)變可以通過測量軸向和橫向應(yīng)變來計(jì)算。在V型缺口剪切試驗(yàn)中，應(yīng)變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間，為了更加準(zhǔn)確測量這些局部應(yīng)變需要使用應(yīng)變儀。 在土木工程領(lǐng)域，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可用于監(jiān)測建筑物、橋梁等結(jié)構(gòu)的應(yīng)變情況。

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種基于光學(xué)原理的高精度測量技術(shù)，通過非接觸方式獲取物體表面應(yīng)變信息，適用于材料力學(xué)性能分析、工程結(jié)構(gòu)監(jiān)測等領(lǐng)域。一、基本原理?數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）?通過追蹤物體表面散斑或紋理特征，對比變形前后的圖像，計(jì)算全場三維位移和應(yīng)變分布。雙目立體視覺系統(tǒng)重建物體三維形貌，結(jié)合算法分析應(yīng)變場?23。技術(shù)特點(diǎn)：支持動態(tài)實(shí)時測量，應(yīng)變分辨率可達(dá)5με，位移精度達(dá)0.01像素?78。?光學(xué)干涉法?利用光波干涉原理，通過分析物體變形引起的光程差變化，獲取表面應(yīng)變信息?1。典型應(yīng)用包括激光散斑干涉和電子散斑干涉。二、關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢?非接觸式測量?：避免對被測物體產(chǎn)生干擾，適用于柔性、高溫或易損材料?16。?全場測量?：覆蓋被測物體整體表面，提供連續(xù)的應(yīng)變分布云圖，優(yōu)于傳統(tǒng)單點(diǎn)測量?13。?高精度與動態(tài)能力?：應(yīng)變分辨率達(dá)微應(yīng)變級別（20με~5με），支持高速動態(tài)載荷下的實(shí)時監(jiān)測?27。?環(huán)境適應(yīng)性?：無需嚴(yán)格避震或特殊光源，可在實(shí)驗(yàn)室或戶外復(fù)雜環(huán)境中使用?
光學(xué)非接觸測量由于不需要與被測物體直接接觸，因此避免了傳統(tǒng)接觸式測量方法可能帶來的誤差和損傷。福建掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測量裝置

電阻應(yīng)變測量(電測法)是實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析中使用較廣和適應(yīng)性比較強(qiáng)的方法之一。安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測量

    金屬應(yīng)變計(jì)是一種用于測量物體應(yīng)變的裝置，其實(shí)際應(yīng)變計(jì)因子可以從傳感器制造商或相關(guān)文檔中獲取，通常約為2。由于應(yīng)變測量通常很小，只有幾個毫應(yīng)變（10?3），因此需要精確測量電阻的微小變化。例如，當(dāng)測試樣本的實(shí)際應(yīng)變?yōu)?00毫應(yīng)變時，應(yīng)變計(jì)因子為2的應(yīng)變計(jì)可以檢測到電阻變化為2(50010??)=。對于120Ω的應(yīng)變計(jì)，變化值只為Ω。為了測量如此小的電阻變化，應(yīng)變計(jì)采用基于惠斯通電橋的配置概念。惠斯通電橋由四個相互連接的電阻臂和激勵電壓VEX組成。當(dāng)應(yīng)變計(jì)與被測物體一起安裝在電橋的一個臂上時，應(yīng)變計(jì)的電阻值會隨著應(yīng)變的變化而發(fā)生微小的變化。這個微小的變化會導(dǎo)致電橋的電壓輸出發(fā)生變化，從而可以通過測量輸出電壓的變化來計(jì)算應(yīng)變的大小。除了傳統(tǒng)的應(yīng)變測量方法外，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)也越來越受到關(guān)注。這種技術(shù)利用光學(xué)原理來測量材料的應(yīng)變，具有非接觸、高精度和高靈敏度等優(yōu)點(diǎn)。它能夠通常使用光纖光柵傳感器或激光干涉儀等設(shè)備來測量材料表面的位移或形變，從而間接計(jì)算出應(yīng)變的大小。這種新興的測量技術(shù)為應(yīng)變測量帶來了新的可能性，并在許多領(lǐng)域中得到了普遍應(yīng)用。 安徽掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測量