PN 結(jié)構(gòu)成了幾乎所有半導(dǎo)體功率器件的基礎(chǔ)，常用的半導(dǎo)體功率器件如DMOS，IGBT，SCR 等的反向阻斷能力都直接取決于 PN 結(jié)的擊穿電壓，因此，PN 結(jié)反向阻斷特性的優(yōu)劣直接決定了半導(dǎo)體功率器件的可靠性及適用范圍。在 PN結(jié)兩邊摻雜濃度為固定值的條件下，一般認(rèn)為除 super junction 之外平行平面結(jié)的擊穿電壓在所有平面結(jié)中具有比較高的擊穿電壓。實(shí)際的功率半導(dǎo)體器件的制造過程一般會(huì)在 PN 結(jié)的邊緣引入球面或柱面邊界，該邊界位置的擊穿電壓低于平行平面結(jié)的擊穿電壓，使功率半導(dǎo)體器件的擊穿電壓降低。由此產(chǎn)生了一系列的結(jié)終端技術(shù)來消除或減弱球面結(jié)或柱面結(jié)的曲率效應(yīng)，使實(shí)際制造出的 PN 結(jié)的擊穿電壓接近或等于理想的平行平面結(jié)擊穿電壓。TVS可以通過串聯(lián)的方式減小TVS的結(jié)電容。陶瓷TVS

常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會(huì)將保護(hù)的電子設(shè)備損壞，這是TVS生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免的情況通過對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征 結(jié)合器件結(jié)構(gòu)，材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等，采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致TVS器件短路失效的原因，分析結(jié)果表明引發(fā)TVS短路失效的內(nèi)在質(zhì)量因素包括粘結(jié)界面空洞、臺(tái)面缺陷，表面強(qiáng)耗盡層或強(qiáng)積累層、芯片裂紋和雜質(zhì)擴(kuò)散不均勻等，使用因素包括過電應(yīng)力、高溫和長(zhǎng)時(shí)間使用耗損等。上海2RTVS原理雙向TVS具有雙向?qū)ΨQ的伏安特性曲線，可用于交變電路浪涌保護(hù)。

TVS瞬態(tài)抑制二極管失效模式：1：當(dāng)瞬態(tài)脈沖能量大于TVS所能承受能量時(shí)會(huì)引起TVS器件過電應(yīng)力損傷，特別是當(dāng)瞬態(tài)能量遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出TVS所能承受的數(shù)倍時(shí)會(huì)直接導(dǎo)致TVS過電應(yīng)力燒毀。失效模式為短路。2：當(dāng)電路中通過的電流太大，可能會(huì)造成TVS炸裂，失效模式為開路。這種情況通常為設(shè)計(jì)時(shí)考慮不周全，TVS通流量過小造成的。3：電性能退化當(dāng)TVS經(jīng)過成千上萬次的標(biāo)準(zhǔn)脈沖沖擊后失效，失效模式為短路。這種模式因長(zhǎng)時(shí)間工作結(jié)溫持續(xù)增大導(dǎo)致（器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化、散熱能力下降）過熱燒毀。

5、對(duì)于數(shù)據(jù)接口電路的保護(hù)，還必須注意選取具有合適電容C的TVS器件。6、根據(jù)用途選用TVS的極性及封裝結(jié)構(gòu)。交流電路選用雙極性TVS較為合理；多線保護(hù)選用TVS陣列更為有利。7、溫度考慮。瞬態(tài)電壓抑制器可以在－55~+150℃之間工作。如果需要TVS在一個(gè)變化的溫度工作，由于其反向漏電流ID是隨增加而增大；功耗隨TVS結(jié)溫增加而下降，從+25℃到+175℃，大約線性下降50%雨擊穿電壓VBR隨溫度的增加按一定的系數(shù)增加。因此，必須查閱有關(guān)產(chǎn)品資料，考慮溫度變化對(duì)其特性的影響。RS485接口一般采用SMAJ6.0CA進(jìn)行浪涌保護(hù)。

引發(fā) TVS 短路的**典型的原因是管芯與內(nèi)引線組件、底座銅片燒結(jié)不良，在燒結(jié)界面出現(xiàn)大面積空洞，空洞可能是由于焊料不均勻或粘結(jié)界面各層材料玷污、氧化使焊料沾潤(rùn)不良，造成燒焊時(shí)焊料與芯片或金屬電極沒有良好的熔合焊接引起的。空洞面積較大時(shí)，電流在燒結(jié)點(diǎn)附近匯聚，管芯散熱困難，造成熱電應(yīng)力集中，產(chǎn)生局部熱點(diǎn)，嚴(yán)重時(shí)引起熱奔，使器件燒毀。對(duì)這些燒毀的器件。進(jìn)行解剖分析，可以看到有芯片局部較深的熔融:空洞面積較小時(shí)，可加速焊料熱疲勞，使焊料層會(huì)產(chǎn)生疲勞龜裂，引起器件熱阻增大，**終導(dǎo)致器件。過熱燒毀。TVS的結(jié)電容與TVS的工作電壓成反比，工作電壓越低，結(jié)電容也越大。江蘇3RTVS參數(shù)

TVS可以通過并聯(lián)的方式增大功率。陶瓷TVS

TVS 臺(tái)面缺陷造成的失效常常是批次性的。 TVS 制造工藝過程中造成芯片臺(tái)面損傷的原因主要有兩個(gè):1)芯片在酸蝕成型時(shí)，由于氫氟酸、硝酸混合液配方過濃或溫度過高而反應(yīng)劇烈。2、燒焊過后進(jìn)行堿腐蝕清洗時(shí)，腐蝕液濃度過大、溫度過高而造成堿腐蝕清洗過重。臺(tái)面缺陷或損傷的TVS 器件經(jīng)過溫度循環(huán)和箝位沖擊等篩選試驗(yàn)后，進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試時(shí)通常表現(xiàn)為短路或擊穿特性異常，從而被剔除。但輕微臺(tái)面損傷的TVS 器件在篩選后電參數(shù)測(cè)試時(shí)不易被發(fā)現(xiàn)，可能被列為良品出廠。這些TVS 器件在使用過程中經(jīng)受長(zhǎng)時(shí)間熱、電、機(jī)械等應(yīng)力的作用后，臺(tái)面缺陷加劇，在缺陷處形成載流子產(chǎn)生-復(fù)合中心，使表面反向漏電流**增加。大的表面反向漏電流使pn 結(jié)邊緣溫度升高，產(chǎn)生熱電綜合效應(yīng)，**終導(dǎo)致pn結(jié)邊緣半導(dǎo)體材料溫度過高燒毀。陶瓷TVS

上海來明電子有限公司成立于2010-08-11，同時(shí)啟動(dòng)了以晶導(dǎo)微電子,意昇,美碩,成鎬為主的TVS、ESD、MOV，放電管、保險(xiǎn)絲、繼電器，二三極管MOS管、晶振，NTC，PPTC，電容產(chǎn)業(yè)布局。旗下晶導(dǎo)微電子,意昇,美碩,成鎬在電子元器件行業(yè)擁有一定的地位，品牌價(jià)值持續(xù)增長(zhǎng)，有望成為行業(yè)中的佼佼者。同時(shí)，企業(yè)針對(duì)用戶，在TVS、ESD、MOV，放電管、保險(xiǎn)絲、繼電器，二三極管MOS管、晶振，NTC，PPTC，電容等幾大領(lǐng)域，提供更多、更豐富的電子元器件產(chǎn)品，進(jìn)一步為全國更多單位和企業(yè)提供更具針對(duì)性的電子元器件服務(wù)。值得一提的是，來明電子致力于為用戶帶去更為定向、專業(yè)的電子元器件一體化解決方案，在有效降低用戶成本的同時(shí)，更能憑借科學(xué)的技術(shù)讓用戶極大限度地挖掘晶導(dǎo)微電子,意昇,美碩,成鎬的應(yīng)用潛能。